商品簡介
目次
1.1 硅單晶的化學性質
1.2 硅化合物的化學性質
1.3 高純硅制備的化學原理
參考文獻
2 微電子技術中的高純水制備
2.1 天然水中的雜質
2.2 微電子技術工程用水
2.3 離子交換法制備純水
2.4 電滲析法制備純水的原理
2.5 反滲透法制備純水的原理
參考文獻
3 微電子技術中的化學清洗
3.1 晶片表面清洗的重要性
3.2 晶片清洗的基本理論和方法
3.3 顆粒吸附狀態分析及優先吸附模型
3.4 表面活性劑在化學清洗中的應用
3.5 硅片清洗的常用方法與技術
3.6 清洗工藝設備和安全操作
3.7 溶液清洗技術的現狀和發展方向
3.8 新型清洗技術
參考文獻
4 氧化工藝技術
4.1 二氧化硅膜在器件中的作用
4.2 二氧化硅的結構和性質
4.3 二氧化硅膜制備的化學原理
4.4 二氧化硅一硅界面的物理性質
4.5 二氧化硅玻璃中的雜質
4.6 雜質在二氧化硅中的擴散
4.7 二氧化硅膜質量的檢驗
參考文獻
5 擴散工藝技術
5.1 擴散原理與模型
5.2 常用擴散雜質的化學性質
5.3 擴散分布的測量分析
參考文獻
6 刻蝕工藝技術
6.1 濕法刻蝕
6.2 干法刻蝕
6.3 刻蝕技術新進展
參考文獻
7 制版工藝技術
7.1 制版工藝過程
7.2 超微粒干版制備的化學原理
7.3 鉻版制備技術
7.4 氧化鐵版制備的化學原理
參考文獻
8 外延生長技術
8.1 硅外延技術在IC發展中的作用
8.2 硅外延生長的化學原理
8.3 外延生長動力學
8.4 外延層中雜質濃度分布
8.5 硅烷熱分解法外延與選擇外延
8.6 外延層上的缺陷及檢驗
8.7 硅外延自摻雜效應及控制
8.8 硅外延片滑移線產生及消除技術
8.9 硅外延生長的工藝優化——反向補償法
參考文獻
9 金屬化處理技術
9.1 化學氣相沉積金屬過程
9.2 物理氣相沉積金屬過程
9.3 電極制備
參考文獻
10 電子封裝技術
10.1 封裝技術概述
10.2 陶瓷封裝
10.3 塑料封裝
10.4 封裝的化學原理
參考文獻
主題書展
更多主題書展
更多書展本週66折
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大,除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態,其餘商品將正常出貨。
特別提醒:部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供,需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”,方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書,將向海外調貨:
海外有庫存之書籍,等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍,平均作業時間約60個工作天,然不保證確定可調到貨,尚請見諒。
為了保護您的權益,「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨,請在商品鑑賞期內寄回,且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。