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半導體物理與器件實驗教程（簡體書）
- 系列名：電子資訊材料與器件系列規劃教材
- ISBN13：9787030442215
- 出版社：科學出版社
- 作者：劉諾; 任敏
- 裝訂／頁數：平裝／176頁
- 規格：23.5cm*16.8cm (高/寬)
- 出版日：2021/02/26
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商品簡介
商品簡介
本書中的實驗均用於說明和演示半導體物理和微電子器件的基本原理，適合不同大專院校的師生使用。全書分上下兩篇，上、下兩篇既獨立成篇又互為聯繫，隸屬於微電子相關專業的知識體系，其中每篇又由“基礎知識”和“實驗”兩部分構成。上篇為“半導體物理實驗”，分別為構建晶體結構、模擬與分析晶體電子結構、單波長橢偏法測試分析薄膜的厚度與折射率、四探針測試半導體電阻率、霍耳效應實驗、高頻光電導法測少子壽命、肖特基二極體的電流-電壓測試分析、肖特基二極體的勢壘高度和半導體的雜質濃度的測試分析、MIS的高頻C-V測試。下篇為“微電子器件實驗”，分別為二極體直流參數測試、雙極型電晶體直流參數測試、MOS場效應電晶體直流參數測試、雙極型電晶體開關參數測試、雙極型電晶體頻率特性測試。每個實驗均包括學習目標、建議學時、原理、實驗儀器、實驗內容、實驗步驟、複習題，旨在培養學生的實驗操作技能和實驗思考技能。
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