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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
商品資訊
ISBN13：9789048196432
替代書名：Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
出版社：Springer Verlag
作者：Smita Krishnaswamy; Igor L. Markov; John P. Hayes
出版日：2012/09/28
裝訂／頁數：精裝／200頁
定價
：NT$ 9279 元若需訂購本書，請電洽客服 02-25006600[分機130、131]。
商品簡介
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商品簡介
Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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