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本書包括X射線衍射分析、電子顯微分析兩大部分，主要內容包括：X射線衍射方程與強度、多晶體分析方法及X射線衍射分析儀、物相的定性與定量分析、晶體點陣參數的精確確定、透射電鏡結構及其成像原理、電子衍射、圖像襯度、衍射運動學分析、高分辨透射電子顯微技術、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時，本書還簡要介紹了低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、場離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道與原子力顯微鏡以及X射線光電子能譜儀等顯微分析方法。書中的實例分析引入了材料組織結構研究方面的新成果。書中還附有練習題部分，通過對題目的解答，加深讀者對相關概念、原理的理解與掌握。 本書可以作為材料科學與工程專業的本科生和研究生教材或教學參考書，也可供材料類其他專業師生和從事材料研究及分析檢測方面工作的技術人員學習參考。
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