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X射線檢測關鍵技術與應用研究（簡體書）
商品資訊
系列名：廈門大學南強叢書第7輯
ISBN13：9787561580684
出版社：廈門大學出版社
作者：方正
出版日：2021/03/01
裝訂／頁數：平裝／329頁
規格：24cm*17cm (高/寬)
版次：一版
商品簡介
作者簡介
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商品簡介
本書系統地介紹了X射線檢測和CT重建方面的理論知識及應用實例。本書從X射線的基礎理論知識開始，介紹了X射線檢測的物理學基礎。對射線檢測各種方法進行了較為全面的描述，包括常規的X射線成像、射線光譜檢測、 CT重建等，還涉及前沿的吸收光譜檢測、光/能譜CT、發射型計算機斷層成像等領域。通讀全書能系統地了解該領域的基礎理論，把握良好的知識體系框架，有利於讀者客觀全面地分析和解決實際問題。本書適合高等學校師生及科研院所工作人員，特別是生物醫學工程和無損檢測兩個不同領域的技術人員閱讀參考。
作者簡介
方正，工學博士。廈門大學物理與機電工程學院，機電工程系教授，博士生導師。華江源科技有限公司技術顧問。《科技創新導報》特約編委。
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