滿額折
統計推斷（簡體書）
商品資訊
系列名：統計學精品譯叢
ISBN13：9787111713203
出版社：機械工業出版社
作者：(美)皮埃爾‧穆蘭; (美)溫努高帕爾‧V.韋拉沃爾利
出版日：2023/01/01
裝訂／頁數：平裝／352頁
規格：24cm*17cm (高/寬)
版次：一版
商品簡介
相關商品
商品簡介
本書對現代統計推斷的基本概念進行了嚴謹而全面的闡述，主要內容包括二元假設檢驗、多元假設檢驗、複合假設檢驗、信號檢測、凸統計距離、假設檢驗的性能界限、假設檢驗的大偏差和錯誤指數、隨機過程檢測、序貫檢測和速變檢測、貝葉斯參數估計、最大似然估計、信號估計等。
今日66折
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。