TOP
0
0
進階搜尋

熱搜：

哥吉拉大解剖圖鑑

、

UFO Cat

、

難哄

、

節能LED燈泡

、

史坎德3新上市

、

2025線上國際書展

、

特價字典展

、

國文爆卦公社２

、

公務員每月一書

、

特斯拉

、

2026經典賽

、

伍佰

熱搜： 哥吉拉大解剖圖鑑、 UFO Cat、 難哄、 節能LED燈泡、 史坎德3新上市、 2025線上國際書展、 特價字典展、 國文爆卦公社２、 公務員每月一書、 特斯拉、 2026經典賽、 伍佰

165反詐騙

購書領優惠，滿額享折扣!

縮小範圍

商品類型
原文書 （2）
商品狀況
可訂購商品 （2）
庫存狀況
無庫存 （2）
商品定價
$800以上 （2）
出版日期
2017年以前 （2）
作者
Edited by Peter Børgesen 、John C. Coburn 、William F. Filter 、John E. Sanchez、Jr. 、Kenneth P. Rodbell （1）
Edited by Peter Børgesen 、John E. Sanchez、Jr. 、Paul H. Townsend 、Timothy P. Weihs （1）
出版社/品牌
CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS （2）

三民網路書店 / 搜尋結果

共2筆商品，1/1頁
Thin Films：Stresses and Mechanical Properties IV：VOLUME308
90折
1.

Thin Films：Stresses and Mechanical Properties IV：VOLUME308

作者：Edited by Peter Børgesen ; John E. Sanchez; Jr. ; Paul H. Townsend ; Timothy P. Weihs  出版社：CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日：1993/10/27 裝訂：平裝
Proceedings of the title symposium, held at the 1993 Spring Meeting of the MRS in San Francisco. The papers are arranged in nine sections following the topical outline upon which the symposium was org
無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)
定價：1665 元， 優惠價：9 1499
Materials Reliability in Microelectronics IV：VOLUME338
90折
2.

Materials Reliability in Microelectronics IV：VOLUME338

作者：Edited by Peter Børgesen ; John C. Coburn ; William F. Filter ; John E. Sanchez; Jr. ; Kenneth P. Rodbell  出版社：CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日：1994/10/19 裝訂：平裝
Proceedings from the Materials Research Society symposium held in San Francisco, April 1994. Invited and contributed papers cover oxides, thin films, experimental techniques, stress in semiconductors
無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)
定價：1665 元， 優惠價：9 1499
  • 共

暢銷榜
客服中心
收藏
會員專區
三民書局
關於我們
門市專區
藝文講座
學習平台
異業合作
圖書採購/編目
人才招募
禮券兌換處
瀏覽器資訊
三民網路書店服務
會員服務條款
資訊安全警語
隱私權政策
新手購書
圖書分類
中國圖書館分類
空中大學購書
好站連結
企業會員專區
加入企業會員
服務條款
會員須知
圖書目錄下載
三民・東大・弘雅三民
小山丘童書(0-6歲)
兒童・青少年(7歲以上)
古籍圖書目錄
古典圖書目錄
畢業禮品