TOP
0
0
即日起~7/10,三民書局週年慶暖身活動,簽到拿好禮!

縮小範圍


商品類型

簡體書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$200~$399 (1)
出版日期

2020~2021 (1)
裝訂方式

平裝 (1)
作者

王莉靜、郝龍、吳金文 (1)
出版社/品牌

華中科技大學出版社 (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

1筆商品,1/1頁
互換性與技術測量基礎(簡體書)
滿額折
作者:王莉靜; 郝龍; 吳金文  出版社:華中科技大學出版社  出版日:2020/05/01 裝訂:平裝
本書分為9章,主要包括我國公差與配合方面的最*標準,闡述了技術測量的基本原理,主要包括緒論,測量技術基礎,極限與配合,幾何公差,表面粗糙度及其評定,光滑工件尺寸的檢驗和光滑極限量規的設計,常用典型件的互換性,圓柱齒輪公差與檢測,尺寸鏈計算。
定價:228 元, 優惠價:87 198
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天

暢銷榜

客服中心

收藏

會員專區