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商品類型
原文書 （5）
商品狀況
可訂購商品 （5）
庫存狀況
無庫存 （5）
商品定價
$800以上 （5）
出版日期
2016年以前 （5）
裝訂方式
平裝 （4）
精裝 （1）
作者
Joseph Goldstein (EDT)/ Dale E. Newbury (EDT)/ David B. Williams (EDT) （1）
Joseph Goldstein/ Dale E. Newbury/ David C. Joy/ Charles E. Lyman/ Patrick Echlin （1）
Joseph Goldstein/ Dale E. Newbury/ Patrick Echlin/ David C. Joy/ Charles Fiori （1）
Joseph I. Goldstein (EDT)/ Dale E. Newbury/ Patrick Kchlin/ David C. Joy/ Charles E. Lyman/ Eric Lifshin/ Linda Sawyer/ Joseph R. Michael （1）
Patrick Echlin/ C. E. Fiori/ Joseph Goldstein/ David C. Joy/ Dale E. Newbury （1）
出版社/品牌
Springer Verlag （4）
Plenum Pub Corp （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共5筆商品，1/1頁
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
1.

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

作者：Patrick Echlin; C. E. Fiori; Joseph Goldstein; David C. Joy; Dale E. Newbury  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/06/08 裝訂：平裝
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec- tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide
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02-25006600[分機130、131]。
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
2.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

作者：Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/05/31 裝訂：平裝
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical a
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02-25006600[分機130、131]。
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
3.

X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

作者：Joseph Goldstein (EDT); Dale E. Newbury (EDT); David B. Williams (EDT)  出版社：Springer Verlag  出版日：2012/10/21 裝訂：平裝
From its early days in the 1950s, the electron microanalyzer has offered two principal ways of obtaining x-ray spectra: wavelength dispersive spectrometry (WDS), which utilizes crystal diffraction, an
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02-25006600[分機130、131]。
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis ― A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
4.

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis ― A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

作者：Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/03/20 裝訂：平裝
This book has evolved by processes of selection and expansion from its predecessor, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), published by Plenum Press in 1975. The interaction of the authors wit
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02-25006600[分機130、131]。
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
5.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

作者：Joseph I. Goldstein (EDT); Dale E. Newbury; Patrick Kchlin; David C. Joy; Charles E. Lyman; Eric Lifshin; Linda Sawyer; Joseph R. Michael  出版社：Plenum Pub Corp  出版日：2002/12/01 裝訂：精裝
Providing acomprehensive introduction to the capabilities and use of scanning electron microscopes (SEM) and x-ray spectrometers, this highly acclaimed text emphasizes practical aspects of imag
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