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$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

Edited by Sandeep K. Goel and Krishnendu Chakrabarty (1)
出版社/品牌

CRC Press UK (1)

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1筆商品,1/1頁
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
作者:Edited by Sandeep K. Goel and Krishnendu Chakrabarty  出版社:CRC Press UK  出版日:2012/03/15 裝訂:精裝
Advances in design methods and process technologies are causing a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of m
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02-25006600[分機130、131]。

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