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無庫存 (1)
商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
裝訂方式

平裝 (1)
作者

Reiner R. Dumke (EDT)/ Rene Braungarten (EDT)/ Gunter Bnren (EDT)/ Alain Abran (EDT)/ Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT) (1)
出版社/品牌

Springer-Verlag New York Inc (1)

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Software Process and Product Measurement ─ International Conferences IWSM 2008, MetriKon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings
This book constitutes the refereed proceedings of three joint events - the International Workshop on Software Measurement, IWSM 2008, the DASMA Metrik Kongress, Metrikon 2008, and the International Co
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02-25006600[分機130、131]。

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