B. Hoops (EDT)/ E. J. Marais (EDT)/ H. Mostert (EDT)/ J. A. M. A. Sluysman (EDT)/ L. C. A. Verstappen (EDT)
（2）
David M. Kroenke/ David J. Auer/ Scott L. Vandenberg/ Robert C. Yoder
（2）
J. Vos (EDT)/ L. f. m. Marcelis (EDT)/ P. H. B. De Visser (EDT)/ P. C. Struik (EDT)/ J. B. Evers (EDT)
（2）
A. L. Williams (EDT)/ G. M. Pinches (EDT)/ C. Y. Chin (EDT)/ T. J. Mcmorran (EDT)/ C. I. Massey (EDT)
（1）
Alan Rushworth/ L. Allason-Jones (CON)/ D. Allen (CON)/ M. C. Bishop (CON)/ R. J. Brickstock (CON)/ P. J. Casey (CON)
（1）
B. G. M. Vandeginste/ L. M. C. Buydens/ S. De Jong/ P. J. Lewi/ J. Smeyers-Verbeke/ D. L. Massart
（1）
C. J. Verhoeven (EDT)/ Arie Van Staveren/ G. L. E. Monna/ M. H. L. Kouwenhoven/ E. Yildiz/ C. J. Verhoeven
（1）
C. M. Agrawal/ J. L. Ong/ Mark R. Appleford/ Gopinath Mani
（1）
C. W. Maris (EDT)/ F. C. L. M. Jacobs (EDT)/ J. R. De Ville (TRN)
（1）
D. F. M. M. Zaman (EDT)/ C. A. Schwarz (EDT)/ M. L. Lennarts (EDT)/ H. J. de Kluiver (EDT)/ A. F. M. Dorresteijn (EDT)
（1）
David M. Kroenke/ David J. Auer/ Robert C. Yoder/ Scott L. Vandenberg
（1）
Edited by Y. Achiba 、D. M. Cox 、J. J. Pouch 、C. L. Renschler
（1）
F. W. Dobbs-Allsop/ J. J. M. Roberts/ C. L. Seow/ R. E. Whitaker
（1）
G. Cornell (EDT)/ J. H. Silverman (EDT)/ M. Artin (CON)/ C. L. Chai (CON)/ C. L. Chinburg (CON)
（1）
Harm-anton Klok (EDT)/ Helmut Schlaad (EDT)/ L. Ayres (CON)/ T. J. Deming (CON)/ J. C. M. Van Hest (CON)
（1）
Hugh Durnford/ J. R. Ackerley (INT)/ Harry Beaumont/ H. A. Cartwright/ A. J. Evans/ Duncan Grinnell-Milne/ J. L. Hardy/ M. C. C. Harrison/ E. H. Jones/ Heinz H. E. Justus/ E. H. Keeling/ Pe
（1）
J. Bowey,R. Grieve,M. Herriman,M. Myhill,A. Nesdale,C. Pratt,W. E. Tunmer;Tunmer, W. E.,Pratt, C.,Herriman, M. L.
（1）
J. C. Moskop (EDT)/ L. M. Kopelman (EDT)
（1）
J. J. Lu (EDT)/ J. S. Cooper (EDT)/ A. W. M. Lee (EDT)/ R. R. Allison (CON)/ I. Ayan (CON)/ K. B. Tan (CON)/ S. Cao (CON)/ A. T. C. Chan (CON)/ L. W. Brady (FRW)/ H. P. Heilmann (FRW)/ Molls
（1）
