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商品定價

$800以上 (2)
出版日期

2022~2023 (1)
2016年以前 (1)
裝訂方式

平裝 (1)
精裝 (1)
作者

Leslie Rutkowski (EDT)/ Matthias Von Davier (EDT)/ David Rutkowski (EDT) (1)
Leslie Rutkowski(EDI) (1)
出版社/品牌

CRC PR INC (1)
Taylor & Francis (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

2筆商品,1/1頁
Handbook of International Large-Scale Assessment: Background, Technical Issues, and Methods of Data Analysis
90折
作者:Leslie Rutkowski(EDI)  出版社:CRC PR INC  出版日:2023/01/09 裝訂:平裝
定價:3126 元, 優惠價:9 2813
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)
Handbook of International Large-scale Assessment ― Background, Technical Issues, and Methods of Data Analysis
作者:Leslie Rutkowski (EDT); Matthias Von Davier (EDT); David Rutkowski (EDT)  出版社:Taylor & Francis  出版日:2013/11/12 裝訂:精裝
"Introduction The origins of modern day international assessments of student skills are often traced back to the First International Mathematics Study (FIMS) conducted by the International Association
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。

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