TOP
0
0
即日起~6/30,暑期閱讀書展,好書7折起

縮小範圍


商品類型

原文書 (2)
商品狀況

可訂購商品 (2)
庫存狀況

無庫存 (2)
商品定價

$800以上 (2)
出版日期

2018~2019 (1)
2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (2)
作者

Santanu Chattopadhyay (1)
Santanu Kundu/ Santanu Chattopadhyay (1)
出版社/品牌

CRC Pr I Llc (1)
Taylor & Francis (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

2筆商品,1/1頁
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
作者:Santanu Chattopadhyay  出版社:CRC Pr I Llc  出版日:2018/04/23 裝訂:精裝
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable
定價:3539 元, 優惠價:1 3539
無庫存,下單後進貨(到貨天數約45-60天)
Network-On-Chip ─ The Next Generation of System-on-Chip Integration
作者:Santanu Kundu; Santanu Chattopadhyay  出版社:Taylor & Francis  出版日:2014/12/05 裝訂:精裝
This book covers the important aspects of Network-on-Chip (NoC) design—communication infrastructure design, communication methodology, evaluation framework, mapping of applications onto NoC, and more.
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。

暢銷榜

客服中心

收藏

會員專區