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商品類型

簡體書 (2)
商品狀況

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庫存狀況

無庫存 (2)
商品定價

$600~$799 (1)
$800以上 (1)
出版日期

2020~2021 (2)
裝訂方式

平裝 (1)
精裝 (1)
作者

(美)約翰‧P.威爾遜 (1)
張錦明 (1)
出版社/品牌

電子工業出版社 (2)

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2筆商品,1/1頁
DEM插值算法適應性理論與方法(簡體書)
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作者:張錦明  出版社:電子工業出版社  出版日:2020/05/01 裝訂:平裝
DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數據精度、插值算法、地貌類型、採樣數據分佈特徵和尺度是影響DEM精度的主要因素之一。插值算法作為其中的直接因素,地貌類型、採樣數據分佈特徵和尺度等因素通過插值算法影響DEM精度。因此,從影響DEM插值精度的不同因素出發,研究DEM插值算法的適應性問題,對降低DEM插值的不確定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意義。本書圍繞DEM插值參數、地貌類型
定價:774 元, 優惠價:87 673
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數字地形建模理論方法及環境應用(簡體書)
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作者:(美)約翰‧P.威爾遜  出版社:電子工業出版社  出版日:2021/08/01 裝訂:精裝
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