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電子系統小子樣試驗理論方法(簡體書)
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電子系統小子樣試驗理論方法(簡體書)

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商品簡介
目次

商品簡介

本書介紹了Bayes小子樣方法的理論及其在電子系統試驗中的應用,主要包括:概率論和數理統計的基本理論及與電子系統試驗密切相關的概率分佈及其特性;電子系統試驗中現用的數據處理方法及其存在的弊端;Bayes理論的基本內容及其在國防科技領域的典型應用;Bayes統計推斷的理論,正態分佈總體和二項分佈總體未知參數的Bayes估計和假設檢驗及其相對于傳統方法的
先進性;SPOT(序貫驗後加權檢驗)方法的基本理論,電子系統試驗中的正態總體和二項總體未知參數的SPOT方法;以雷達探測距離和發現概率為例,詳述歷史數據的獲取及整理、驗前分佈函數的獲得、試驗結果的Bayes估計和檢驗,探測距離和發現概率指標的SPOT檢驗等。
本書可作為從事電子系統或電子對抗系統數據處理、試驗評估、試驗設計以及統計決策領域科技人員的參考書,也可供高等院校本科生和研究生進行相關課題研究或課程學習時參考。

目次

第1章 概率及概率分布
1.1 基本概念
1.2 隨機變量及概率分布
1.3 數理統計基礎
第2章 電子系統試驗中傳統的數據處理方法
2.1 參數估計
2.2 假設檢驗
2.3 試驗中子樣大小的確定
2.4 經典統計方法的缺陷及誤用
2.5 傳統方法的評價
第3章 Bayes方法基本原理
3.1 紡計推斷中所應用的信息
3.2 Bayes方法的產生及其基本觀點
3.3 驗前分布的計算方法
3.4 驗后分布的計算方法
3.5 共軛分布
3.6 Bayes方法的典型應用
3.7 Bayes方法的評價
第4章 Bayes統計推斷
4.1 Bayes統計推斷的基本理論
4.2 正態總體未知參數的Bayes估計
4.3 正態總體未知未知參數的Bayes估計
4.4 正態總體未知參數u、Bayes估計
4.5 二項分布總體未知參數P的Bayes估計
第5章 序貫驗后加權檢驗與小子樣試驗方法
5.1 序貫驗后加權檢驗方法
5.2 正態總體分布均值的驗后加權檢驗
5.3 正態總體分布方差的驗后加權檢驗
5.4 正態總體分布聯合分布的驗后加權檢驗
5.5 二項分布總布未知參數P的驗后加權檢驗
第6章 電子系統小子樣試驗方法應用及分析
6.1 替代等效推算模型
6.2 正態總體中均值的統計檢驗及分析
6.3 正態總體中方差的統計檢驗及分析
6.4 正態總體中均值和方差的聯合統計檢驗及分析
6.5 二次總體中P參數的統計檢驗及分析
后記
附表
參考文獻

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