Thin Films::Stresses and Mechanical Properties I:VOLUME130
商品資訊
系列名:MRS Proceedings
ISBN13:9781558990036
出版社:CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
作者:Edited by John C. Bravman ; William D. Nix ; David M. Barnett ; David A. Smith
出版日:1989/04/13
裝訂:平裝
版次:1
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Fifty-six contributions from a symposium held November 1988, Boston, Mass. On important aspects of stresses and mechanical properties in thin film technologies and on experimental techniques for studying mechanical properties in thin film media. Includes coverage of testing and measurement techniques, heteroepitaxy, fracture and related failure mechanisms, and thin film mechanical properties. Produced from reduced, varying typescripts of borderline legibility. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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