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Evolution of Surface and Thin Film Microstructure：VOLUME280
商品資訊
系列名：MRS Proceedings
ISBN13：9781558991750
出版社：Cambridge University Press
作者：Edited by Harry A. Atwater ; Eric Chason ; Marcia H. Grabow ; Max G. Lagally
出版日：1993/10/27
裝訂：平裝
版次：1
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商品簡介
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商品簡介
The proceedings of the title symposium, held at the 1992 MRS Fall Meeting in Boston, comprise invited and contributed papers organized in ten parts: fundamental issues of surface evolution diffusion, atomistics, and morphology; structure and dynamics of surface and interface evolution; chemical vapor deposition growth kinetics; interface roughness what it is and how it is measured; development of orientation and microstructure; misfit accommodation; relationship between structure and properties; interface reaction oxidation, etching, silicide formation, and solid phase epitaxy; growth of heteroepitaxial systems; and diamond thin films and Si-Ge-C alloys. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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