綜合孔徑成像原理與應用（簡體書）

本書主要包括：範西特-澤尼克定理、陣列優化和設計、相位誤差和相位校正、圖像重構和圖像復原、光學綜合孔徑直接成像系統原理、探測器採樣、被動毫米波綜合孔徑成像系統、多圓周陣列結構及其優化、相位誤差測量與補償方法、改進型維納濾波法、圖像重構技術綜合孔徑成像系統的最新技術等內容。
第一章 綜合孔徑成像導論。本章介紹了綜合孔徑成像技術的基本概念、分類、國內外研究現狀，以及目前主流的應用。
第二章 綜合孔徑成像基礎。本章簡述了掌握綜合孔徑成像技術所必備的數學基礎，如卷積、相關、傅裡葉變換等運算，以及相關的物理基礎，如非相干成像系統中的點擴散函數和光學傳遞函數、部分相干成像理論中著名的範西特-澤尼克定理。
第三章 綜合孔徑成像的關鍵技術。本章綜述了綜合孔徑成像系統的三個共性關鍵技術，包括陣列優化和設計、相位誤差和相位校正以及圖像重構和圖像復原。
第四章 光學綜合孔徑直接成像系統。本章針對光學波段的綜合孔徑成像系統進行了深入分析，介紹了光學綜合孔徑直接成像系統的原理，並分別闡述了陣列優化和設計、相位誤差和相位校正、圖像重構和圖像復原、探測器採樣等關鍵問題，最後給出了實驗方法。

第1章 綜合孔徑成像技術導論
1.1 綜合孔徑成像技術概述
1.2 綜合孔徑成像技術原理
1.2.1 光學綜合孔徑成像原理
1.2.2 被動毫米波綜合孔徑成像原理
1.3 綜合孔徑成像技術發展現狀
1.3.1 光學綜合孔徑成像技術發展現狀
1.3.2 被動毫米波綜合孔徑成像技術發展現狀
1.4 綜合孔徑成像系統關鍵技術
1.4.1 陣列優化和設計
1.4.2 相位誤差和校正
1.4.3 圖像重構和圖像復原

第2章 綜合孔徑成像基礎
2.1 數學基礎
2.1.1 卷積和相關
2.1.2 傅裡葉變換
2.1.3 線性系統分析
2.2 物理基礎
2.2.1 非相干光學成像系統
2.2.2 範西特一澤尼克定理
2.2.3 被動輻射測量基礎

第3章 光學綜合孔徑直接成像系統
3.1 基本原理
3.1.1 等效模型
3.1.2 特徵指標
3.2 陣列優化和設計
3.2.1 典型陣列結構
3.2.2 多圓周陣列結構
3.2.3 多圓周陣列的優化
3.3 相位誤差和校正
3.3.1 光束合成誤差分析
3.3.2 冗餘基線校正方法
3.3.3 一維RSC陣列的優化
3.3.4 圓周RSC陣列的優化
3.4 圖像復原
3.4.1 經典圖像復原法
3.4.2 圖像質量評價方法
3.4.3 維納濾波法在光學綜合孔徑中的應用
3.5 實驗研究
3.5.1 模擬實驗系統
3.5.2 望遠鏡光闌實驗
3.5.3 冗餘基線校正模板實驗
3.5.4 光學綜合孔徑遙感系統
3.6 本章小結

第4章 被動毫米波綜合孔徑成像系統
4.1 基本原理
4.1.1 被動綜合孔徑干涉成像原理
4.1.2 被動綜合孔徑光子成像原理
4.1.3 光子成像系統主要性能分析
4.2 陣列設計和優化
4.2.1 引言
4.2.2 優化基礎
4.2.3 優化準則
4.2.4 優化算法
4.2.5 優化結果
4.3 相位誤差和校正
4.3.1 閉合相位校正
4.3.2 載波干涉校正技術
4.3.3 基於光子晶體的全息相位校正技術
4.4 重構成像算法
4.4.1 引言
4.4.2 Gridding算法
4.4.3 CLEAN算法
4.5 實驗研究
4.5.1 基於光纖傳輸的二元干涉實驗
4.5.2 基於光纖傳輸的毫米波探測實驗
4.6 本章小結

第5章 綜合孔徑成像技術展望
5.1 被動綜合孔徑寬帶成像技術
5.2 被動毫米波直接電光調製技術
5.3 超分辨率處理與多光譜融合技術
5.4 複合相位誤差測量與校正技術
5.5 多孔密瞳光學陣列
5.6 壓縮感知綜合孔徑成像技術
參考文獻