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智慧型儀器器設計（簡體書）
商品資訊
系列名：高等院校電子資訊與電氣學科系列規劃教材
ISBN13：9787111471691
出版社：機械工業出版社
作者：丁國清; 陳欣
出版日：2014/07/01
裝訂：平裝
商品簡介
目次
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商品簡介
高等院校電子資訊與電氣學科系列規劃教材
智慧型儀器器設計
丁國清 陳 欣 編著
機械工業出版社China Machine Press
圖書在版編目（CIP）數據
智慧型儀器器設計 / 丁國清，陳欣編著. —北京：機械工業出版社，2014.7
（高等院校電子資訊與電氣學科系列規劃教材）
ISBN 978-7-111-47169-1
I. 智… II. ①丁… ②陳… III. 智慧型儀器器－設計－高等學校－教材 IV. TP216
中國版本圖書館CIP資料核字（2014）第134969號
本書介紹智慧型儀器器的理論基礎、關鍵技術和設計原理。全書共分兩篇，上篇以理論知識為主，針對智慧型儀器器的特點，講解輸入/輸出通道、資料處理演算法、人機交互與匯流排技術、可靠性技術，並以智慧比色高溫計為實例介紹智慧型儀器器的設計流程和發展方向；下篇以課程設計為主，針對糾偏控制系統，講解實驗裝置和操作方法，包含介面連接、程式調試、鍵盤監控等內容，共計10個實驗。
本書可作為高等院校儀器儀錶類相關專業課程教材，也可供儀器研究設計人員和自動化測試技術人員參考。
智慧型儀器器設計
丁國清 陳 欣 編著
機械工業出版社China Machine Press
圖書在版編目（CIP）數據
智慧型儀器器設計 / 丁國清，陳欣編著. —北京：機械工業出版社，2014.7
（高等院校電子資訊與電氣學科系列規劃教材）
ISBN 978-7-111-47169-1
I. 智… II. ①丁… ②陳… III. 智慧型儀器器－設計－高等學校－教材 IV. TP216
中國版本圖書館CIP資料核字（2014）第134969號
本書介紹智慧型儀器器的理論基礎、關鍵技術和設計原理。全書共分兩篇，上篇以理論知識為主，針對智慧型儀器器的特點，講解輸入/輸出通道、資料處理演算法、人機交互與匯流排技術、可靠性技術，並以智慧比色高溫計為實例介紹智慧型儀器器的設計流程和發展方向；下篇以課程設計為主，針對糾偏控制系統，講解實驗裝置和操作方法，包含介面連接、程式調試、鍵盤監控等內容，共計10個實驗。
本書可作為高等院校儀器儀錶類相關專業課程教材，也可供儀器研究設計人員和自動化測試技術人員參考。
目次
前言
教學建議
上篇 智能儀器設計基礎
第1章 智能儀器概論
1.1 智能儀器的發展史及概述
1.2 智能儀器特點
思考題和習題
第2章 輸入/輸出通道
2.1 輸入和轉換通道
2.1.1 輸入和轉換通道的特點和結構
2.1.2 輸入和轉換通道的性能指標
2.1.3 信號調理
2.1.4 信號采集和轉換電路
2.2 輸出和驅動通道
2.2.1 輸出和驅動概述 前言
教學建議
上篇 智能儀器設計基礎
第1章 智能儀器概論
1.1 智能儀器的發展史及概述
1.2 智能儀器特點
思考題和習題
第2章 輸入/輸出通道
2.1 輸入和轉換通道
2.1.1 輸入和轉換通道的特點和結構
2.1.2 輸入和轉換通道的性能指標
2.1.3 信號調理
2.1.4 信號采集和轉換電路
2.2 輸出和驅動通道
2.2.1 輸出和驅動概述
2.2.2 數模轉換
2.2.3 干擾防治
2.2.4 信號驅動
思考題和習題
第3章 數據處理
3.1 程序結構
3.1.1 模塊程序
3.1.2 結構化程序
3.2 數據結構及查表技術
3.3 數字濾波算法
3.4 非線性校正
3.5 消除儀器的漂移
思考題和習題
第4章 人機交互與總線
4.1 人機交互
4.1.1 人機交互概述
4.1.2 鍵盤
4.1.3 顯示器件
4.2 監控程序
4.2.1 監控程序和功能程序
4.2.2 監控主程序
4.2.3 鍵盤管理
4.3 總線概述
4.4 RS-232C總線
4.5 內部總線
思考題和習題
第5章 可靠性技術
5.1 可靠性概念
5.1.1 可靠度、故障率和平均故障間隔時間
5.1.2 串聯及并聯系統的可靠度
5.2 干擾和抗干擾措施
5.2.1 干擾
5.2.2 抗干擾措施
5.3 容錯技術
5.3.1 冗余技術
5.3.2 主要容錯技術
5.3.3 容錯技術的現狀與發展趨勢
5.4 故障診斷和自檢
5.5 故障自恢復
思考題和習題
第6章 智能儀器的設計和展望
6.1 設計前的準備
6.1.1 設計任務的確定
6.1.2 計算機系統的選擇
6.1.3 不同類型芯片的電氣匹配
6.2 智能儀器的研制步驟
6.2.1 硬件與軟件的劃分
6.2.2 硬件設計
6.2.3 軟件設計
6.3 軟硬件的綜合調試和測試
6.3.1 硬件調試
6.3.2 軟件調試
6.3.3 聯機仿真軟硬件綜合調試
6.3.4 智能儀器可測試性
6.4 智能儀器設計實例
6.5 智能儀器發展與展望
6.5.1 人工智能與專家系統
6.5.2 機器學習
6.5.3 專家系統
下篇 智能儀器課程設計
第7章 課程設計的目的、任務和基礎知識
7.1 課程設計的目的
7.2 課程設計的任務
7.2.1 任務
7.2.2 實驗方法指示及注意事項
7.3 ADS開發環境簡介
7.3.1 CodeWarrior IDE簡介
7.3.2 AXD調試器簡介
7.4 PID控制算法簡介
7.4.1 位置式PID控制算法
7.4.2 增量式PID控制算法
7.5 μC/OS-II操作系統簡介
7.6 JTAG調試接口
7.6.1 JTAG調試接口簡介
7.6.2 基于JTAG的調試過程
第8章 課程設計的實驗裝置和實驗步驟
8.1 糾偏控制系統簡介
8.2 糾偏控制系統裝置
8.2.1 傳感器
8.2.2 糾偏控制器
8.2.3 執行機構
8.2.4 CAN總線
8.2.5 糾偏控制DEMO及調試裝置
8.2.6 其他實驗儀器和消耗品
8.3 實驗步驟
8.3.1 擦除ARM芯片程序
8.3.2 JTAG調試接口連接
8.3.3 程序編譯及JTAG調試
8.3.4 程序燒寫
8.3.5 電機硬件連接
8.3.6 ARM Developer Suite v1.2的安裝
8.3.7 ARM Developer Suite v1.2的卸載
第9章 課程設計內容
9.1 實驗1：I/O口實驗
9.2 實驗2：串行口實驗（選做）
9.3 實驗3：LCD顯示實驗
9.4 實驗4：I2C接口實驗
9.5 實驗5：CAN總線實驗
9.6 實驗6：PWM電機驅動模塊實驗
9.7 實驗7：狀態法鍵盤監控程序實驗
9.8 實驗8：PID算法實驗
9.9 實驗9：μC/OS-II操作系統實驗
9.10 實驗10：糾偏控制系統功能調試實驗
附錄A 課程設計實驗數據記錄表
附錄B
參考文獻
教學建議
上篇 智能儀器設計基礎
第1章 智能儀器概論
1.1 智能儀器的發展史及概述
1.2 智能儀器特點
思考題和習題
第2章 輸入/輸出通道
2.1 輸入和轉換通道
2.1.1 輸入和轉換通道的特點和結構
2.1.2 輸入和轉換通道的性能指標
2.1.3 信號調理
2.1.4 信號采集和轉換電路
2.2 輸出和驅動通道
2.2.1 輸出和驅動概述 前言
教學建議
上篇 智能儀器設計基礎
第1章 智能儀器概論
1.1 智能儀器的發展史及概述
1.2 智能儀器特點
思考題和習題
第2章 輸入/輸出通道
2.1 輸入和轉換通道
2.1.1 輸入和轉換通道的特點和結構
2.1.2 輸入和轉換通道的性能指標
2.1.3 信號調理
2.1.4 信號采集和轉換電路
2.2 輸出和驅動通道
2.2.1 輸出和驅動概述
2.2.2 數模轉換
2.2.3 干擾防治
2.2.4 信號驅動
思考題和習題
第3章 數據處理
3.1 程序結構
3.1.1 模塊程序
3.1.2 結構化程序
3.2 數據結構及查表技術
3.3 數字濾波算法
3.4 非線性校正
3.5 消除儀器的漂移
思考題和習題
第4章 人機交互與總線
4.1 人機交互
4.1.1 人機交互概述
4.1.2 鍵盤
4.1.3 顯示器件
4.2 監控程序
4.2.1 監控程序和功能程序
4.2.2 監控主程序
4.2.3 鍵盤管理
4.3 總線概述
4.4 RS-232C總線
4.5 內部總線
思考題和習題
第5章 可靠性技術
5.1 可靠性概念
5.1.1 可靠度、故障率和平均故障間隔時間
5.1.2 串聯及并聯系統的可靠度
5.2 干擾和抗干擾措施
5.2.1 干擾
5.2.2 抗干擾措施
5.3 容錯技術
5.3.1 冗余技術
5.3.2 主要容錯技術
5.3.3 容錯技術的現狀與發展趨勢
5.4 故障診斷和自檢
5.5 故障自恢復
思考題和習題
第6章 智能儀器的設計和展望
6.1 設計前的準備
6.1.1 設計任務的確定
6.1.2 計算機系統的選擇
6.1.3 不同類型芯片的電氣匹配
6.2 智能儀器的研制步驟
6.2.1 硬件與軟件的劃分
6.2.2 硬件設計
6.2.3 軟件設計
6.3 軟硬件的綜合調試和測試
6.3.1 硬件調試
6.3.2 軟件調試
6.3.3 聯機仿真軟硬件綜合調試
6.3.4 智能儀器可測試性
6.4 智能儀器設計實例
6.5 智能儀器發展與展望
6.5.1 人工智能與專家系統
6.5.2 機器學習
6.5.3 專家系統
下篇 智能儀器課程設計
第7章 課程設計的目的、任務和基礎知識
7.1 課程設計的目的
7.2 課程設計的任務
7.2.1 任務
7.2.2 實驗方法指示及注意事項
7.3 ADS開發環境簡介
7.3.1 CodeWarrior IDE簡介
7.3.2 AXD調試器簡介
7.4 PID控制算法簡介
7.4.1 位置式PID控制算法
7.4.2 增量式PID控制算法
7.5 μC/OS-II操作系統簡介
7.6 JTAG調試接口
7.6.1 JTAG調試接口簡介
7.6.2 基于JTAG的調試過程
第8章 課程設計的實驗裝置和實驗步驟
8.1 糾偏控制系統簡介
8.2 糾偏控制系統裝置
8.2.1 傳感器
8.2.2 糾偏控制器
8.2.3 執行機構
8.2.4 CAN總線
8.2.5 糾偏控制DEMO及調試裝置
8.2.6 其他實驗儀器和消耗品
8.3 實驗步驟
8.3.1 擦除ARM芯片程序
8.3.2 JTAG調試接口連接
8.3.3 程序編譯及JTAG調試
8.3.4 程序燒寫
8.3.5 電機硬件連接
8.3.6 ARM Developer Suite v1.2的安裝
8.3.7 ARM Developer Suite v1.2的卸載
第9章 課程設計內容
9.1 實驗1：I/O口實驗
9.2 實驗2：串行口實驗（選做）
9.3 實驗3：LCD顯示實驗
9.4 實驗4：I2C接口實驗
9.5 實驗5：CAN總線實驗
9.6 實驗6：PWM電機驅動模塊實驗
9.7 實驗7：狀態法鍵盤監控程序實驗
9.8 實驗8：PID算法實驗
9.9 實驗9：μC/OS-II操作系統實驗
9.10 實驗10：糾偏控制系統功能調試實驗
附錄A 課程設計實驗數據記錄表
附錄B
參考文獻
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