滿額折
商品簡介
相關商品
商品簡介
近10年來，國內外學者在葉岩儲層表徵方面取得了大量的研究成果，超小角和小角中子/X射線散射技術在葉岩儲層表徵中的應用愈加廣泛。本書將系統介紹小角散射的實驗原理及中國的小角散射設備；結合近年來小角散射在葉岩儲層表徵中的研究工作，論述樣品環境及製備方法，以及小角散射實驗及數據分析；同時重點介紹小角中子散射同位素匹配法在表徵葉岩孔隙連通性、潤濕性、膨脹性及滲透性方面的應用；最後與其他表徵技術如氣體吸附、高壓壓汞和核磁共振等進行比較，分析各種方法的差異性及互補性，通過各種技術的結合達到多尺度、多維度表徵葉岩儲層物性結構的目的。
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。