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商品類型

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政府出版品 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$600~$799 (1)
出版日期

2022~2023 (1)
裝訂方式

平裝 (1)
作者

陳春萬研究主持;蔡春進、林冠宇共同主持 (1)
出版社/品牌

勞動部勞動及職業安全衛生研究所 (1)

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1筆商品,1/1頁
奈米微粒暴露改善技術探討
滿額折
作者:陳春萬研究主持; 蔡春進; 林冠宇共同主持  出版社:勞動部勞動及職業安全衛生研究所  出版日:2023/06/01 裝訂:平裝
奈米微粒逸散研究發現,當模擬危害源位於氣櫃內部中央,可變風量(VAV)氣櫃面速度下降及拉門開度提高時,奈米微粒逸散情形增加,雖然濃度不高,但部分時間可測得較明顯逸散情形。氣簾式(AC)氣櫃拉門開度由全開至低開時,發現在低開時有最多的微粒逸散。若模擬危害源置於氣罩內部左側,VAV氣櫃的面速度較高時及AC氣櫃的下吸速度較高時逸散情形較為明顯。使用VOC當作危害物時,測試結果也相同。電腦模擬所觀測之流場分布及微粒軌跡發現,氣流進入到氣櫃內部時,氣櫃皆會在拉門後方內部形成迴流區。當拉門開度較高時,危害物釋放後會隨氣流排出,並未觀測到逸散情形,但拉門開度降低時,危害物受到迴流影響移動軌跡較為複雜,在氣櫃內部不規則運動而累積,在VAV氣櫃模擬中也沒有發現逸散情形,只有在AC氣櫃且危害源在氣櫃左側模擬時有發現逸散情形。計畫所評估之VAV及AC氣櫃都可有效控制奈米微粒逸散,可供事業單位控制奈米微粒逸散參考。
無庫存,下單後進貨(採購期約30個工作天)
定價:600 元, 優惠價:95 570

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