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165反詐騙

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商品類型
原文書 （1）
商品狀況
可訂購商品 （1）
庫存狀況
無庫存 （1）
商品定價
$800以上 （1）
出版日期
2016年以前 （1）
裝訂方式
平裝 （1）
作者
Ben Schouten (EDT)/ Niels Christian Juul (EDT)/ Andrzej Drygajlo (EDT)/ Massimo Tistarelli (EDT) （1）
出版社/品牌
Springer-Verlag New York Inc （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共1筆商品，1/1頁
Biometrics and Identity Management—First European Workshop, BIOID 2008, Roskilde, Denmark, May 7-9, 2008, Revised Selected Papers
1.

Biometrics and Identity Management—First European Workshop, BIOID 2008, Roskilde, Denmark, May 7-9, 2008, Revised Selected Papers

作者：Ben Schouten (EDT); Niels Christian Juul (EDT); Andrzej Drygajlo (EDT); Massimo Tistarelli (EDT)  出版社：Springer-Verlag New York Inc  出版日：2009/02/13 裝訂：平裝
This volume constitutes the post-conference proceedings of the First European Workshop on Biometrics and Identity Management, BIOID 2008, held in Roskilde, Denmark, during May 7-9, 2008. The 23 regula
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