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無庫存 (1)
商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2017年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

Laung-terng Wang (EDT)/ Charles E. Stroud (EDT)/ Nur A. Touba (1)
出版社/品牌

Elsevier Science Ltd (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

1筆商品,1/1頁
作者:Laung-terng Wang (EDT); Charles E. Stroud (EDT); Nur A. Touba  出版社:Elsevier Science Ltd  出版日:2007/11/20 裝訂:精裝
Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor indu
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