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商品類型
原文書 （4）
商品狀況
可訂購商品 （4）
庫存狀況
無庫存 （4）
商品定價
$800以上 （4）
出版日期
2023~2024 （1）
2017年以前 （3）
裝訂方式
精裝 （4）
作者
Christian Houdre （1）
Christian Houdre (EDT)/ David M. Mason (EDT)/ Jan Rosinski (EDT)/ Jon A. Wellner (EDT) （1）
Evarist Gine/ Evarist Gine (EDT)/ Christian Houdre (EDT)/ David Nualart (EDT) （1）
Robert C. Dalang (EDT)/ Evarist Gine (EDT)/ Christian Houdre (EDT)/ David Nualart (EDT) （1）
出版社/品牌
Springer Verlag （3）
Pearson Education (US) （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共4筆商品，1/1頁
Probability Models
滿額折
1.

Probability Models

作者：Christian Houdre  出版社：Pearson Education (US)  出版日：2023/03/07 裝訂：精裝
無庫存，下單後進貨(到貨天數約45-60天)
定價：3782 元， 優惠價：95 3593
Seminar on Stochastic Analysis, Random Fields and Applications IV ― Centro Stefano Franscini, Ascona, May 2002
2.

Seminar on Stochastic Analysis, Random Fields and Applications IV ― Centro Stefano Franscini, Ascona, May 2002

作者：Robert C. Dalang (EDT); Evarist Gine (EDT); Christian Houdre (EDT); David Nualart (EDT)  出版社：Springer Verlag  出版日：2004/09/27 裝訂：精裝
This volume contains twenty refereed papers presented at the 4th Seminar on Stochastic Processes, Random Fields and Applications, which took place in Ascona, Switzerland, from May 2002. The seminar fo
若需訂購本書，請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
無法訂購
High Dimensional Probability VI
3.

High Dimensional Probability VI

作者：Christian Houdre (EDT); David M. Mason (EDT); Jan Rosinski (EDT); Jon A. Wellner (EDT)  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/04/28 裝訂：精裝
This is a collection of papers by participants at High Dimensional Probability VI Meeting held from October 9-14, 2011 at the Banff International Research Station in Banff, Alberta, Canada. High Dimen
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Stochastic Inequalities and Applications
4.

Stochastic Inequalities and Applications

作者：Evarist Gine; Evarist Gine (EDT); Christian Houdre (EDT); David Nualart (EDT)  出版社：Springer Verlag  出版日：2004/02/01 裝訂：精裝
Concentration inequalities, which express the fact that certain complicated random variables are almost constant, have proven of utmost importance in many areas of probability and statistics. This vol
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