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165反詐騙

古典詩詞的女兒-葉嘉瑩

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商品類型
原文書 （9）
商品狀況
可訂購商品 （9）
庫存狀況
無庫存 （9）
商品定價
$800以上 （9）
出版日期
2016~2017 （1）
2016年以前 （8）
裝訂方式
平裝 （5）
精裝 （4）
作者
David C. Joy （2）
David C. I. Joy （1）
Edgar Volkl/ David C. Joy (EDT)/ Lawrence F. Allard (EDT)/ Edgar Volkl (EDT)/ Allard, （1）
Joseph Goldstein/ Dale E. Newbury/ David C. Joy/ Charles E. Lyman/ Patrick Echlin （1）
Joseph Goldstein/ Dale E. Newbury/ Patrick Echlin/ David C. Joy/ Charles Fiori （1）
Joseph Goldstein/ Dale Newbury/ David C. Joy/ Joseph Michael/ Nicholas W. M. Ritchie （1）
Joseph I. Goldstein (EDT)/ Dale E. Newbury/ Patrick Kchlin/ David C. Joy/ Charles E. Lyman/ Eric Lifshin/ Linda Sawyer/ Joseph R. Michael （1）
Patrick Echlin/ C. E. Fiori/ Joseph Goldstein/ David C. Joy/ Dale E. Newbury （1）
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出版社/品牌
Springer Verlag （5）
Plenum Pub Corp （2）
Equinox （1）
Oxford Univ Pr on Demand （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共9筆商品，1/1頁
Helium Ion Microscopy ― Principles and Applications
1.

Helium Ion Microscopy ― Principles and Applications

作者：David C. Joy  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/10/31 裝訂：平裝
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions – such as the Helium Ion Microscope (H
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02-25006600[分機130、131]。
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Mark and Its Subalterns ─ A Hermaneutical Paradigm for a Postcolonial Context
90折
2.

Mark and Its Subalterns ─ A Hermaneutical Paradigm for a Postcolonial Context

作者：David C. I. Joy  出版社：Equinox  出版日：2008/09/30 裝訂：平裝
Joy has expanded his doctoral dissertation into an exciting branch of Indian hermeneutics, considering the nature of gospel texts. He provides a very good summary of tenets and methods, then analyzes
無庫存，下單後進貨(到貨天數約45-60天)
定價：2469 元， 優惠價：9 2222
Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis
3.

Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis

作者：David C. Joy  出版社：Oxford Univ Pr on Demand  出版日：1995/04/13 裝訂：精裝
This book describes for the first time how Monte Carlo modeling methods can be applied to electron microscopy and microanalysis. Computer programs for two basic types of Monte Carlo simulation are de
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
4.

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

作者：Patrick Echlin; C. E. Fiori; Joseph Goldstein; David C. Joy; Dale E. Newbury  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/06/08 裝訂：平裝
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec- tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide
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Introduction to Electron Holography
5.

Introduction to Electron Holography

作者：Edgar Volkl; David C. Joy (EDT); Lawrence F. Allard (EDT); Edgar Volkl (EDT); Allard  出版社：Plenum Pub Corp  出版日：1999/06/01 裝訂：精裝
Experienced and novice holographers receive a solid foundation in the theory and practice of holography, the next generation of imaging technology, in this superb text. The book's `how to' aspects
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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
6.

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

作者：Joseph Goldstein; Dale Newbury; David C. Joy; Joseph Michael; Nicholas W. M. Ritchie  出版社：Springer Verlag  出版日：2017/12/16 裝訂：精裝
This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-
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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis ― A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
7.

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis ― A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

作者：Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/03/20 裝訂：平裝
This book has evolved by processes of selection and expansion from its predecessor, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), published by Plenum Press in 1975. The interaction of the authors wit
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
8.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

作者：Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin  出版社：Springer Verlag  出版日：2013/05/31 裝訂：平裝
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical a
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
9.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

作者：Joseph I. Goldstein (EDT); Dale E. Newbury; Patrick Kchlin; David C. Joy; Charles E. Lyman; Eric Lifshin; Linda Sawyer; Joseph R. Michael  出版社：Plenum Pub Corp  出版日：2002/12/01 裝訂：精裝
Providing acomprehensive introduction to the capabilities and use of scanning electron microscopes (SEM) and x-ray spectrometers, this highly acclaimed text emphasizes practical aspects of imag
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