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$800以上 (2)
出版日期

2017年以前 (2)
裝訂方式

平裝 (1)
作者

Edited by John C. Bravman 、Thomas N. Marieb 、James R. Lloyd 、Matt A. Korhonen (1)
Edited by R. A. James 、T. J. Millar (1)
出版社/品牌

CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS (1)
Cambridge University Press (1)

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2筆商品,1/1頁
作者:Edited by R. A. James ; T. J. Millar  出版社:Cambridge University Press  出版日:1991/07/18 裝訂:平裝
The study of molecular clouds has received increasing interest in recent years, particularly in the UK with powerful new instruments such as MERLIN and the Maxwell millimetre wave telescope. These con
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
Materials Reliability in Microelectronics VIII:VOLUME516
90折
作者:Edited by John C. Bravman ; Thomas N. Marieb ; James R. Lloyd ; Matt A. Korhonen  出版社:CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日:1998/11/11 裝訂:平裝
Novel measurement techniques, microstructural effects, reliability modelling, stress effects, advanced interconnect reliability, and adhesion and fracture are the concerns of the 49 papers. Invited pr
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)
定價:1665 元, 優惠價:9 1499

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