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商品類型

簡體書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$200~$399 (1)
出版日期

2016~2017 (1)
裝訂方式

平裝 (1)
作者

M.尼古拉季斯 (1)
出版社/品牌

電子工業出版社 (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

1筆商品,1/1頁
作者:M.尼古拉季斯  出版社:電子工業出版社  出版日:2016/07/01 裝訂:平裝
本書系統闡述了軟錯誤發生的複雜物理過程,全書共分為10章。主要介紹了軟錯誤研究歷史和未來發展趨勢; 單粒子效應發生機制與分類;JEDEC標準;門級建模與模擬;電路級和系統級單粒子效應建模與模擬;硬體故障注入;採用加速測試與錯誤率預估技術,評估驗證面向空間或地面環境的積體電路;電路級軟錯誤抑制技術;軟體級軟錯誤抑制技術;高可靠電子系統軟錯誤性能的技術指標與驗證方法。全書總結了過去,預測了未來趨勢,闡
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