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現代電子系統軟錯誤(簡體書)
作者:
M.尼古拉季斯
出版社:
電子工業出版社
出版日:
2016/07/01
裝訂:
平裝
本書系統闡述了軟錯誤發生的複雜物理過程,全書共分為10章。主要介紹了軟錯誤研究歷史和未來發展趨勢; 單粒子效應發生機制與分類;JEDEC標準;門級建模與模擬;電路級和系統級單粒子效應建模與模擬;硬體故障注入;採用加速測試與錯誤率預估技術,評估驗證面向空間或地面環境的積體電路;電路級軟錯誤抑制技術;軟體級軟錯誤抑制技術;高可靠電子系統軟錯誤性能的技術指標與驗證方法。全書總結了過去,預測了未來趨勢,闡
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