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商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
作者

Edited by J. Joseph Clement 、William F. Filter 、Patrick M. Lenahan 、Anthony S. Oates 、Robert Rosenberg (1)
出版社/品牌

CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS (1)

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Materials Reliability in Microelectronics VI:VOLUME428
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The annual snapshot of the subject presents 78 papers covering a historical summary of the past 30 years, copper metallization, the characterization of electromigration phenomena, modeling, microstruc
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