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出版日期

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出版社/品牌

國立編譯館 (1)

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多元迴歸分析:影響點偵測與缺適性檢定
出版社:國立編譯館  出版日:2008/12/01 裝訂:平裝
本書主要的內容,在於介紹多元迴歸分析中的「影響點之偵測」,以及「缺適性檢定」。所謂影響點,是指某些迴歸資料中的觀測點,其對於迴歸模式的影響,遠超過其他觀測點者。本書針對「影響點之偵測」,以及多元迴歸之「缺適性檢定」,提出了經濟有效之偵檢公式,以目前而言,這些偵檢過程及方法,還少見於一般的迴歸分析之書籍。
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