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本書主要的內容，在於介紹多元迴歸分析中的「影響點之偵測」，以及「缺適性檢定」。所謂影響點，是指某些迴歸資料中的觀測點，其對於迴歸模式的影響，遠超過其他觀測點者。本書針對「影響點之偵測」，以及多元迴歸之「缺適性檢定」，提出了經濟有效之偵檢公式，以目前而言，這些偵檢過程及方法，還少見於一般的迴歸分析之書籍。
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