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本書適用于ISO 9000審核員，ISO／TS 16949審核員，整車企業或汽車零部件企業專業技術人員以及軍工質量管理人員，有利于相關專業技術人員掌握。本書還可供專業技術人員作培訓教材使用。
本書旨在介紹SPC設計的基本觀點和方法，著重對建立SPC體系所涉及的基礎知識進行必要的闡述，同時解釋了在實施SPC時需了解和掌握的其他統計技術以及SPC與其他統計技術之間的內在聯系。本書的主要內容包括：統計過程控制原理及應用流程[過程概念；過程變差；局部措施和對系統採取措施；控制特性、子組和監控頻率的確定；過程(控制)分類；SPC的三個目標；從工程分析、在線控制到持續改進的基本程序]。測量系統分析，常見的計量型數據控製圖(也包括特別情況下的統計過程控制應用，作業指導書和控製圖的轉換)，常見的計數型數據的控製圖，抽樣與分組的影響，目標和離散的影響，用于多品種小批量生產過程控制的控製圖(歸一化處理)，在ISO／TS 16949和軍工質量管理體系中實施SPC的常見錯誤分析，以及如何建立SPC體系。
本書旨在介紹SPC設計的基本觀點和方法，著重對建立SPC體系所涉及的基礎知識進行必要的闡述，同時解釋了在實施SPC時需了解和掌握的其他統計技術以及SPC與其他統計技術之間的內在聯系。本書的主要內容包括：統計過程控制原理及應用流程[過程概念；過程變差；局部措施和對系統採取措施；控制特性、子組和監控頻率的確定；過程(控制)分類；SPC的三個目標；從工程分析、在線控制到持續改進的基本程序]。測量系統分析，常見的計量型數據控製圖(也包括特別情況下的統計過程控制應用，作業指導書和控製圖的轉換)，常見的計數型數據的控製圖，抽樣與分組的影響，目標和離散的影響，用于多品種小批量生產過程控制的控製圖(歸一化處理)，在ISO／TS 16949和軍工質量管理體系中實施SPC的常見錯誤分析，以及如何建立SPC體系。
目次
第1章 統計過程控制原理及應用流程
1.1 概述
1.2 過程概念
1.3 過程變差
1.4 局部措施和系統性措施
1.5 統計過程控制
1.6 控制特性、子組和監控頻率的確定
1.7 過程(控制)分類
1.8 統計過程控制(SPC)的三個目標
1.9 從工程分析、在線控制到持續改進的基本程序
第2章 測量系統分析簡單介紹
2.1 測量系統分析相關術語和概念
2.2 測量系統評定注意事項
2.3 測量系統分析流程
2.4 結果分析
2.5 計量型測量系統分析方法
第3章 常見的計量型數據控製圖
3.1 均值和極差控製圖(X拔-R圖)
3.2 均值和標準差控製圖(X拔-S圖)
3.3 單值和移動極差控製圖(X-MR圖)
3.4 特別情況下的統計技術
3.5 作業指導書的要求和控製圖的轉換
第4章 常見的計數型數據控製圖
4.1 概述
4.2 不合格品率的P圖
4.3 不合格品數的np圖
4.4 不合格品數的c圖
4.5 單位產品不合格數的μ圖
第5章 實施sPC的常見錯誤分析
5.1 測量誤差較大的情形
5.2 分辨率的影響
5.3 過程或取樣分層
5.4 總體單值截尾的情況
5.5 其他例子
第6章 案例分析
6.1 抽樣和分組
6.2 目標和離散的影響
6.3 歸一化處理
6.4 利用控製圖進行持續改進
第7章 電子元器件統計過程控制體系
7.1 概述
7.2 電子元器件統計過程控制體系的一般要求
7.3 預防性維護與預測性維護
7.4 SPC體系內審
7.5 SPC體系實施計劃編制指南
7.6 實施SPC的流程
附錄一 控製圖的計算公式和系數
附錄二 標準正態函數表
參考文獻
1.1 概述
1.2 過程概念
1.3 過程變差
1.4 局部措施和系統性措施
1.5 統計過程控制
1.6 控制特性、子組和監控頻率的確定
1.7 過程(控制)分類
1.8 統計過程控制(SPC)的三個目標
1.9 從工程分析、在線控制到持續改進的基本程序
第2章 測量系統分析簡單介紹
2.1 測量系統分析相關術語和概念
2.2 測量系統評定注意事項
2.3 測量系統分析流程
2.4 結果分析
2.5 計量型測量系統分析方法
第3章 常見的計量型數據控製圖
3.1 均值和極差控製圖(X拔-R圖)
3.2 均值和標準差控製圖(X拔-S圖)
3.3 單值和移動極差控製圖(X-MR圖)
3.4 特別情況下的統計技術
3.5 作業指導書的要求和控製圖的轉換
第4章 常見的計數型數據控製圖
4.1 概述
4.2 不合格品率的P圖
4.3 不合格品數的np圖
4.4 不合格品數的c圖
4.5 單位產品不合格數的μ圖
第5章 實施sPC的常見錯誤分析
5.1 測量誤差較大的情形
5.2 分辨率的影響
5.3 過程或取樣分層
5.4 總體單值截尾的情況
5.5 其他例子
第6章 案例分析
6.1 抽樣和分組
6.2 目標和離散的影響
6.3 歸一化處理
6.4 利用控製圖進行持續改進
第7章 電子元器件統計過程控制體系
7.1 概述
7.2 電子元器件統計過程控制體系的一般要求
7.3 預防性維護與預測性維護
7.4 SPC體系內審
7.5 SPC體系實施計劃編制指南
7.6 實施SPC的流程
附錄一 控製圖的計算公式和系數
附錄二 標準正態函數表
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