雷達標校技術(簡體書)
商品資訊
系列名:雷達與探測前沿技術叢書
ISBN13:9787118114225
出版社:國防工業出版社
作者:張中升
出版日:2018/05/29
裝訂/頁數:平裝/244頁
規格:24cm*17cm (高/寬)
版次:一版
商品簡介
《雷達標校技術》適合作為“雷達系統設計”“電子設備結構”等專業的本科選修課教材,也可用作“雷達系統工程”等相關專業的研究生教材,並可供從事雷達系統總體、武器系統總體專業相關工作的科研和工程技術人員閱讀和參考。
作者簡介
王志輝,湖北鐘祥人。1993年獲西安電子科技大學電子設備結構學士學位,2005年獲中國航天科工集團第二研究院兵器發射理論與技術工學碩士學位,2014年美國堪薩斯州立大學訪問學者。長期從事雷達總體結構、標校技術、衛星目標特性和軌道動力學研究。曾任北京無線電測量研究所雷達結構總體室副主任,現為雷達總體結構和標校技術學術帶頭人,研究員。先後任多部雷達主任設計師和主任研究師。獲國防科技進步一等獎3項,發表學術論文10餘篇,獲專利授權3項。
序
雷達測量精度(準確度)在雷達工作性能中占據重要位置,它是雷達主要戰術技術指標之一,代表雷達測量目標數據的準確程度,也就是雷達對目標的測量值與目標的真實值偏離的程度。一般以雷達測量誤差大小表示雷達的精度:誤差大,則精度差;誤差小,則精度高。雷達的測量精度取決於多種因素,其中有雷達設備本身狀況、被探測目標的狀態、外界環境對雷達電波傳播的影響和信號轉換量化誤差等。本書將以工程應用為主描述如何正確設計、使用雷達並實現其精度指標,如何測定一部雷達的精度,如何分離各種誤差因素,以及如何估算各種因素所造成誤差分量的大小等內容。這些內容統稱為雷達的標校技術。
雷達標校伴隨雷達發展整個過程,對滿足和保障雷達設備的工作質量不可缺少,研制單位和使用單位都極其重視雷達的標校。軍事斗爭、經濟建設和科學技術研究對雷達提出越來越多的要求,需要雷達觀察目標的類型不斷擴展,測量目標的參數日益增多,定位目標的距離越來越遠、需求測量精度越來越高,工作環境日漸惡化,可以說雷達面臨嚴峻的挑戰。對雷達及其標校系統的性能、研制周期和生產成本等諸多方面提出了更高的要求。
為了適應雷達技術現代化發展的需求,必須加強雷達標校技術的研究,不斷提高雷達標校的技術水平,逐步實現雷達標校自動化。當前,數字集成電路(IC)、計算機中央處理器(CPU)、現場可編程門陣列(FPGA)和衛星全球定位系統(如:美國GPS、中國“北斗”BD、俄羅斯GLONASS、歐盟Galileo)的普及和應用,為雷達標校技術的進步和雷達標校自動化提供了堅實的技術基礎,展現出雷達標校技術發展的美好遠景。本書介紹一些主要的雷達標校技術,供雷達研制和使用人員參考。
目次
第1章 雷達測量精度
1.1 概述
1.1.1 誤差源
1.1.2 誤差的性質和特征
1.1.3 誤差的計算
1.1.4 誤差實時統計模型
1.2 測角誤差根源及其誤差估算
1.2.1 測角體制
1.2.2 目標相關誤差
1.2.3 雷達跟蹤誤差
1.2.4 轉換誤差
1.2.5 電波傳播誤差
1.3 測距誤差來源及其誤差估計
1.3.1 測距體制
1.3.2 目標相關誤差
1.3.3 雷達跟蹤誤差
1.3.4 轉換誤差
1.3.5 電波傳播誤差
1.4 測速誤差來源及其估算
1.4.1 測速原理及測速體制
1.4.2 目標誤差
1.4.3 雷達熱噪聲誤差
1.4.4 轉換誤差
1.4.5 傳播誤差
1.5 誤差的綜合
1.5.1 誤差綜合的要求
1.5.2 誤差的分布和數字特征
1.5.3 誤差綜合規則
1.6 誤差的測定和分離
1.6.1 概述
1.6.2 誤差分離的方法
1.6.3 隨機誤差分離
參考文獻
第2章 雷達常規標校
2.1 概述
2.2 雷達常規標定
2.2.1 方位軸不垂直於地平面(大盤水平度)誤差標定
2.2.2 方位角和仰角零值標定
2.2.3 光機軸偏差標定
2.2.4 光電軸偏差標定
2.2.5 距離零值標定
2.2.6 重力下垂角的測定
2.2.7 定向靈敏度標定
2.2.8 俯仰軸不垂直於方位軸(方位軸、俯仰軸正交度)測量
2.3 雷達校正
2.3.1 方位軸不垂直於地平面(大盤水平)的校正
2.3.2 光電軸偏差校正
2.3.3 方位系統誤差校正
2.3.4 俯仰系統誤差校正
2.3.5 距離系統誤差校正
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