電子元器件檢驗技術(試驗部分)（簡體書）

本書在結合眾多工程師多年科研成果和工程實踐的基礎上，結合我國電子元器件產業現狀，從電子元器件檢驗和生產行業出發，圍繞電子元器件檢驗主題，詳細闡述了電子元器件測試的基本概念、標準體系，以及不同類別電子元器件的檢驗技術等。

王曉晗，博士（後），高級工程師，中國電子產品可靠性與環境試驗研究所副總工程師，軍用電子元器件標準化委員會副秘書長。組織支持國家科技重大專項: "XX器件評價與檢測技術”、"XX抗輻照機理和評估技術”、"XX抗核輻射試驗技術”，軍用電子元器件共性技術、國防科技基礎、總裝技術基礎、科技部"航空電子系統故障診斷與健康預測”重大國際合作等項目，獲國家國防科技三等獎一項。

電子元器件檢驗技術（試驗部分）
電子元器件是構成電子設備的最基本單元，其優劣決定了整體設備的質量和可靠性。隨著電子設備向精密化、智能化、小型化的發展，任何一個電子元器件的質量問題都可能影響設備的整體運行。因此電子元器件檢驗作為電子元器件產品質量控制手段具有非常重要的作用。
電子元器件試驗是考核電子元器件產品在不同環境條件下的環境適應性和壽命以及在不同的物理試驗條件下的元器件的物理性能，評價是否符合標準規定要求的過程。
本書是電子元器件檢驗技術（測試部分）的姊妹篇，編寫團隊長期從事電子元器件的試驗工作，在多年環境試驗、物理試驗和可靠性分析實際工作經驗的基礎上，從電子元器件檢驗角度出發，詳細描述不同試驗的概念、作用、涉及標準和工程經驗等。本書不僅可以作為電子產品生產企業質量與可靠性工程師的參考指南，還可以作為電子元器件檢驗過程中試驗技術的教科書，供高校師生閱讀，具有極高的操作性和實用性。
本書共分為5章，涵蓋了壽命試驗、環境試驗、空間環境輻射試驗、物理試驗以及結構分析等內容。其中壽命試驗技術部分介紹了電子元器件壽命試驗的概念及作用、應力對壽命的影響、加速壽命試驗以及具體的試驗標準、方法和工程經驗等；環境試驗技術部分介紹了電子元器件環境試驗的概念、作用以及氣候、機械環境、水浸、黴菌、鹽霧、砂塵、綜合環境試驗的試驗標準、方法；空間環境試驗技術部分介紹了電離總劑量輻射效應、單粒子效應兩種試驗的標準、方法；物理試驗技術部分介紹了電子元器件外觀檢查、密封等多類試驗的原理、標準和方法等；結構分析技術部分介紹了結構分析的一般方法以及結構分析與DPA、失效分析的關係等內容。
本書共5章，各章執筆分別是：第1、2、3章，鄧銳、鄧傳錦、王曉晗、費武雄、呂宏峰、龔維熙、陳波、薑思博；第4、5章，牛付林、周帥、王曉晗、盧思佳、劉磊、王斌。王曉晗、羅宏偉負責全書的組織、策劃、匯總和校審工作，呂宏峰參加了部分通稿工作。書籍的編寫過程中得到了電子元器件檢測技術領域有關同事的大力協助，他們不僅給予了大量的文獻資料而且提供了寶貴的經驗總結，同時還得到了各級領導、專家的大力支持，在此表示感謝。本書在編寫過程中參考了國內外有關文獻資料，在此，對文獻的作者表示感謝。
隨著元器件技術的發展，測試技術和試驗技術也不斷深化和發展。由於編著者水平有限，書中難免存在不足之處，懇請廣大同行、讀者批評指正。

第一篇 元器件基礎知識 （1）
第1章 電子元器件的基本概念及分類 （2）
1.1 電子元器件概述 （2）
1.1.1 狹義的電子元器件 （2）
1.1.2 通義的電子元器件 （2）
1.1.3 廣義的電子元器件 （3）
1.2 元器件的主要類別及功能 （3）
1.2.1 單片集成電路 （3）
1.2.2 半導體分立器件 （4）
1.2.3 混合集成電路 （4）
1.2.4 真空電子器件 （5）
1.2.5 微波電路及組件 （5）
1.2.6 通用元件 （6）
1.2.7 光電子器件 （6）
1.2.8 機電元件及組件 （7）
1.2.9 特種元器件 （9）
1.2.10 電子元器件封裝外殼 （9）
本章參考文獻 （10）
第2章 檢驗及電子元器件檢驗 （11）
2.1 檢驗的基本概念 （11）
2.1.1 檢驗的分類 （12）
2.1.2 檢驗的一般步驟和內容 （13）
2.1.3 檢驗的作用 （14）
2.1.4 質量概念的發展與檢驗 （15）
2.1.5 可靠性與檢驗 （16）
2.2 電子元器件檢驗概述 （17）
2.2.1 電子元器件的鑒定檢驗 （17）
2.2.2 電子元器件的質量一致性檢驗 （17）
2.2.3 電子元器件的篩選檢驗 （18）
2.2.4 電子元器件的過程控制檢驗 （18）
2.2.5 電子元器件的檢驗項目 （19）
本章參考文獻 （21）
第3章 元器件檢驗的標準體系概述 （23）
3.1 我國的標準體系 （24）
3.1.1 標準主分類 （24）
3.1.2 標準的性質 （24）
3.1.3 標準基礎分類 （25）
3.1.4 標準層次 （25）
3.1.5 標準領域 （26）
3.2 電子元器件標準體系 （27）
3.2.1 電子元器件國家標準 （28）
3.2.2 電子元器件行業標準 （28）
3.2.3 電子元器件軍用標準 （30）
3.3 電子元器件檢驗標準體系 （34）
本章參考文獻 （35）
第二篇 元器件測試技術 （37）
第4章 集成電路測試技術 （38）
4.1 器件類型及參數 （38）
4.1.1 器件類型 （38）
4.1.2 器件參數 （38）
4.2 對標準的理解 （43）
4.2.1 集成電路測試方法標準體系 （43）
4.2.2 標準的技術內容 （44）
4.2.3 複雜電路測試標準 （44）
4.2.4 集成電路測試國外標準發展情況 （46）
4.2.5 非消費類集成電路標準體系的發展情況 （46）
4.2.6 集成電路測試標準的的發展方向 （46）
4.3 參數的測試方法 （47）
4.3.1 數字集成電路的參數測試方法 （48）
4.3.2 模擬集成電路的參數測試方法 （53）
4.4 工程應用經驗 （56）
4.4.1 ATE測試平臺 （56）
4.4.2 集成電路測試支撐技術 （59）
4.4.3 集成電路測試案例 （63）
4.5 測試技術的發展趨勢 （76）
本章參考文獻 （79）
第5章 分立器件測試技術 （81）
5.1 器件類型及參數 （81）
5.1.1 二極管 （81）
5.1.2 晶體管 （87）
5.1.3 晶閘管 （89）
5.1.4 場效應管 （92）
5.2 對標準的理解 （97）
5.2.1 解讀GJB128A―97 （98）
5.2.2 解讀測試相關標準 （99）
5.2.3 測試一般注意事項 （99）
5.3 參數測試方法 （100）
5.3.1 二極管參數測試方法 （100）
5.3.2 晶體管參數測試方法 （109）
5.3.3 晶閘管參數測試方法 （118）
5.3.4 場效應管參數測試方法 （122）
5.4 工程應用經驗 （127）
5.5 測試技術的發展趨勢 （129）
本章參考文獻 （130）
第6章 混合集成電路測試技術 （132）
6.1 器件類型及參數 （133）
6.1.1 DC/DC變換器 （133）
6.1.2 EMI電源濾波器 （133）
6.1.3 V/F、I/F變換器 （134）
6.1.4 脈寬調製放大器 （134）
6.2 對標準的理解 （135）
6.2.1 GJB2438A―2002混合集成電路通用規範 （135）
6.2.2 GB/T 15138―1994膜集成電路和混合集成電路外形尺寸 （136）
6.2.3 GJB2440A―2006混合集成電路外殼通用規範 （137）
6.2.4 SJ 20646―97混合集成電路DC/DC變換器測試方法 （137）
6.3 參數的測試方法 （137）
6.3.1 DC/DC變換器參數測試方法 （138）
6.3.2 EMI濾波器參數測試方法 （146）
6.3.3 V/F、I/F變換器參數測試方法 （148）
6.3.4 脈寬調製放大器參數測試方法 （150）
6.4 工程應用經驗 （152）
6.4.1 DC/DC變換器 （153）
6.4.2 V/F變換器 （155）
本章參考文獻 （157）
第7章 真空電子器件測試技術 （158）
7.1 真空電子器件的類型及參數 （158）
7.1.1 真空電子器件的定義 （158）
7.1.2 真空電子器件的分類 （159）
7.1.3 行波管 （160）
7.1.4 速調管 （162）
7.1.5 微波功率模塊（MPM） （163）
7.1.6 磁控管 （164）
7.1.7 正交場放大管 （164）
7.1.8 光電倍增管 （165）
7.1.9 天線開關管 （166）
7.1.10 顯像管 （166）
7.1.11 真空光源 （167）
7.2 對標準的理解 （168）
7.3 參數的測試方法 （171）
7.3.1 通用測試方法 （171）
7.3.2 微波管主要參數測試方法 （177）
7.3.3 光電管及光源主要參數測試方法 （182）
7.4 工程應用經驗 （192）
7.5 測試技術的發展趨勢 （193）
7.5.1 真空電子器件概述 （193）
7.5.2 真空電子器件的優勢 （193）
7.5.3 真空電子器件的發展趨勢 （194）
本章參考文獻 （197）
第8章 微波電路及組件測試技術 （199）
8.1 器件類型及參數 （199）
8.1.1 微波混合集成電路與組件 （199）
8.1.2 微波通用元件 （202）
8.1.3 微波毫米波器件與電路 （203）
8.1.4 微波毫米波磁性元器件 （209）
8.2 對標準的理解 （211）
8.2.1 對SJ20645―97的理解 （211）
8.2.2 對GB1462―92的理解 （212）
8.2.3 對GJB1648A―2011的理解 （212）
8.3 參數測試方法 （213）
8.3.1 晶體振盪器測試方法 （213）
8.3.2 微波混頻器測試方法 （227）
8.3.3 微波功率放大器參數測試方法 （231）
8.4 工程應用經驗 （239）
8.4.1 微波電纜組件和轉接器的使用經驗 （239）
8.4.2 PCB夾具的校準技術 （240）
8.4.3 提高噪聲係數測量精度的方法 （244）
8.5 測試技術的發展趨勢 （245）
8.5.1 射頻微波的發展 （245）
8.5.2 射頻微波電路主要測試方法 （245）
本章參考文獻 （245）
第9章 通用元件測試技術 （247）
9.1 幾種通用元件 （247）
9.1.1 電阻器 （247）
9.1.2 電容器 （249）
9.1.3 電感器和變壓器 （251）
9.2 測試參數定義 （251）
9.2.1 電阻器 （251）
9.2.2 電容器 （252）
9.2.3 電感器和變壓器 （254）
9.3 對標準的理解 （255）
9.3.1 電阻器 （255）
9.3.2 電容器 （256）
9.3.3 電感器和變壓器 （258）
9.4 參數測試方法 （258）
9.4.1 電阻器 （258）
9.4.2 電容器 （261）
9.5 工程應用經驗 （266）
9.5.1 電阻器 （266）
9.5.2 電容器 （267）
9.6 測試技術發展趨勢 （270）
9.6.1 電阻器 （270）
9.6.2 電容器 （270）
本章參考文獻 （271）
第10章 光電子器件測試技術 （272）
10.1 器件類型及參數 （272）
10.1.1 紅外光電及焦平面探測器組件 （272）
10.1.2 發光二極管（LED） （276）
10.1.3 光電耦合器 （277）
10.1.4 激光器 （278）
10.1.5 微光像增強器 （279）
10.1.6 光纖光纜 （280）
10.1.7 圖像傳感器 （280）
10.1.8 液晶顯示器 （281）
10.2 對標準的理解 （282）
10.2.1 紅外光電及焦平面組件測試和試驗標準討論 （283）
10.2.2 平板顯示器件測試和試驗標準討論 （285）
10.2.3 對光電器件標準的理解 （287）
10.3 參數測試方法 （288）
10.3.1 紅外焦平面陣列探測器件特性參數測試方法 （288）
10.3.2 液晶顯示器特性參數測試方法 （297）
10.3.3 光發射器件參數的測試方法 （298）
10.3.4 光敏器件參數的測試方法 （303）
10.3.5 光電耦合器件參數的測試方法 （306）
10.4 工程應用經驗 （311）
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