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《IGBT疲勞失效機理及其健康狀態監測》通過詳細分析IGBT芯片與封裝疲勞失效機理,在研究失效特徵量隨疲勞老化時間變化規律的基礎之上,通過將理論分析與解析描述相結合,建立了IGBT相關電氣特徵量的健康狀態監測方法,對處於不同壽命階段的IGBT器件健康狀態進行有效評估。《IGBT疲勞失效機理及其健康狀態監測》可作為從事電力電子技術理論與工程的技術人員的參考書,也可作為電力電子與電力傳動專業的本科生?碩士和博士研究生,以及從事電力電子器件方面研究的師生與研究人員的參考書。
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