滿額折
表面分析技術（簡體書）
商品資訊
ISBN13：9787306066893
出版社：中山大學出版社(大陸)
作者：(英)約翰‧C.維克曼; (英)伊恩‧S.吉爾摩
譯者：陳建
出版日：2020/12/01
裝訂／頁數：精裝／530頁
規格：24cm*17cm (高/寬)
版次：一版
商品簡介
作者簡介
商品簡介
本書介紹表面分析主要技術，包括俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、二次離子質譜、低能粒子散射和盧瑟福背散射技術、表面分子振動光譜技術以及擴展X射線吸收精細結構和掃描隧道顯微技術、原子力顯微技術等。本書主要闡述上述表面分析技術的基本原理和實用樣品實例分析，每章結尾處還附有相關的分析練習題供讀者訓練，判斷自己對書中知識內容掌握的程度。
作者簡介
陳建，中山大學研究員、博士生導師，主要研究領域包括材料的分子光譜和電子能譜分析、納米材料表面和界面性能研究等。
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。