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公差配合與技術測量(第5版)（簡體書）
商品資訊
ISBN13：9787512434219
出版社：北京航空航天大學出版社
作者：王立波
出版日：2021/03/01
裝訂：平裝
規格：24cm*17cm (高/寬)
商品簡介
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商品簡介
本書主要內容包括：概論、光滑圓柱體的公差與配合、技術測量基礎、幾何公差及測量、表面粗糙度與測量、光滑極限量規設計、典型零件的公差配合與測量、圓柱齒輪的公差與測量和尺寸鏈。適用于高職高專院校的機電一體化技術、機械製造、數控技術等機械類專業，也適
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