集成電路測試指南（簡體書）

作者通過分享自身經驗，為讀者提供一本以工程實踐為主的集成電路測試參考書。本書分為五篇共10章節來介紹實際芯片驗證及量產中半導體集成電路測試的概念和知識。第1篇由第1章和第2章組成，從測試流程和測試相關設備開始，力圖使讀者對於集成電路測試有一個整體的概念。第二篇由第3～5章組成，主要講解半導體集成電路的自動測試原理。第三篇開始進入工程實踐部分，本篇由第6章的集成運算放大器芯片和第7章的電源管理芯片測試原理及實現方法等內容構成。通過本篇的學習，讀者可以掌握一般模擬芯片的測試方法。第四篇為數字集成電路的具體實踐。我們選取了市場上應用需求量大的存儲芯片（第8章）和微控制器芯片（第9章），為讀者講述其測試項目和相關測試資源的使用方法。第五篇即第10章節，使讀者瞭解混合信號測試的實現方式，為後續的進階打下一個堅實的基礎。
本書主要的受眾是想要或即將成為集成電路測試工程師的讀者，我們假設讀者已經學習過相應的基礎課程，主要包括電路分析、模擬電子技術、數字電子技術、信號與系統、數字信號處理以及計算機程序設計語言。通過本書的學習，讀者將對半導體集成電路測試有一個總體的概念，並可以掌握能直接應用到工作中的實戰技術，並借此以“術”入“道”。對於已經從事半導體集成電路測試的工程技術人員、集成電路產品工程師、設計工程師，本書也具有一定的參考意義。

將芯片測試原理與工程實踐相結合，涵蓋數字、模擬、混合和電源管理等各類主流芯片測試方法，入門必備參考書

序一
序二
序三
前言
第一篇　集成電路測試及測試系統簡介
第1章　集成電路測試簡介 2
1.1?集成電路測試的分類 3
1.1.1?集成電路測試分類 3
1.1.2?CP測試流程及設備 4
1.1.3?FT測試流程及設備 6
1.2?IC測試項目 10
1.3?產品手冊與測試計劃 11
1.3.1?產品手冊 11
1.3.2　測試計劃 12
1.4?測試程序 13
1.4.1?測試程序的分類 13
1.4.2?量產測試程序的流程 13
1.4.3　分類篩選 14
第2章　集成電路測試系統 15
2.1 模擬IC測試系統 15
2.2 數字IC測試系統 18
2.2.1 數字測試系統的組成 18
2.2.2 PMU的原理與參數設置 21
2.2.3　引腳電路的組成和原理 23
2.3 混合IC測試系統 25
2.3.1 模擬子系統與數字子系統 27
2.3.2　測試同步 28
2.4 ST2500高性能數模混合測試系統 29
2.4.1?ST2500硬件資源 30
2.4.2?環境要求 43
2.5 ST-IDE軟件系統 44
2.5.1　ST-IDE軟件界面 44
2.5.2　基於ST-IDE的測試程序開發流程 46
2.5.3?工廠界面 57
2.6?集成電路測試工程師實訓平臺 59
2.6.1?實驗產品 60
2.6.2?教學實驗板的使用 63
第二篇　集成電路
基本測試原理
第3章　直流及參數測試 66
3.1 開短路測試 66
3.1.1　開短路測試的目的和原理 66
3.1.2　開短路測試的方法 67
3.1.3　開短路的串行與並行測試 69
3.2 漏電流測試 69
3.2.1　漏電流測試的目的 69
3.2.2　漏電流測試方法 70
3.2.3 漏電流測試的串行與並行 72
3.3 電源電流測試 72
3.3.1　電源電流測試的目的 72
3.3.2　IDD測試方法 72
3.4 直流偏置與增益測試 74
3.4.1　輸入偏置電壓測試 74
3.4.2　輸出偏置電壓 74
3.4.3　增益測試 74
3.5 輸出穩壓測試 75
3.6 數字電路輸入電平與輸出電平測試 76
3.6.1　輸入電平（VIL/VIH）測試 76
3.6.2　輸出高電平（VOH/IOH）測試 76
3.6.3　輸出低電平（VOL/IOL）測試 77
3.6.4 輸出電平的功能測試方法 78
第4章　數字電路功能及交流參數測試 80
4.1 測試向量 80
4.2 時序的設定 82
4.2.1 時序的基本概念 82
4.2.2 定義時序與波形格式 84
4.3 引腳電平的設定 86
4.4 動態負載測量開短路 87
第5章　混合信號測試基礎 90
5.1?時域與頻域分析 90
5.1.1　週期時域信號分解工具―傅裡葉級數 90
5.1.2　頻域分析 94
5.2?採樣 97
5.2.1　採樣及採樣定理 97
5.2.2 離散傅裡葉變換與快速傅裡葉變換 97
5.2.3 相干採樣 98
5.3 DAC的靜態參數測試 99
5.3.1 最小有效位 99
5.3.2 零點偏移誤差 100
5.3.3 增益誤差 100
5.3.4 差分非線性誤差 101
5.3.5 積分非線性誤差 102
5.4 ADC的靜態參數測試 102
5.4.1 最小有效位 102
5.4.2 零點偏移誤差 104
5.4.3 增益誤差 105
5.4.4 差分非線性誤差 105
5.4.5 積分非線性 105
5.5 ADC/DAC的動態參數測試 106
第三篇　模擬集成電路測試與實踐
第6章　集成運算放大器測試與實踐 110
6.1?集成運算放大器的基本特性 110
6.1.1?集成運算放大器的原理與工作模式 110
6.1.2?典型集成運算放大器的特徵參數 111
6.2?集成運算放大器的特徵參數測試方法 112
6.2.1?輸入失調電壓 113
6.2.2?輸入偏置電流與輸入失調電流 114
6.2.3?共模抑制比 115
6.2.4?開環電壓增益 116
6.2.5?電源抑制比 117
6.2.6?全諧波失真 118
6.2.7?靜態功耗 119
6.3?集成運算放大器測試計劃及硬件資源 119
6.3.1?測試方案設計 119
6.3.2?Load Board設計 121
6.4?測試程序開發 122
6.4.1?新建測試工程 122
6.4.2?編輯Signal Map 123
6.4.3?新建tmf文件以及cpp文件 124
6.4.4?特徵參數測試編程詳解 124
6.5?程序調試及故障定位 125
6.5.1?測試項目啟動 125
6.5.2?測試調試 126
6.5.3?測試過程與測試結果 126
6.6?測試總結 127
第7章　電源管理芯片測試與實踐 129
7.1?電源管理芯片原理與基本特性 129
7.1.1?電源管理芯片工作原理 129
7.1.2?電源管理芯片的典型應用 130
7.1.3 電源管理芯片的特徵參數 132
7.2 LDO特徵參數測試方法 134
7.2.1 輸出電壓 134
7.2.2 最大輸出電流 135
7.2.3 輸入輸出壓差 136
7.2.4 接地電流 137
7.2.5 負載調整率 137
7.2.6 線性調整率 139
7.2.7 電源抑制比