滿額折
商品簡介
相關商品
商品簡介
本書針對雷達BIT技術中存在的狀態監測點設置不合理、監測深度不夠、虛警率高等問題, 從雷達監測點優化設計、整機性能監測、虛警機理分析與虛警抑制等方面進行了理論與技術研究, 主要內容包括雷達智能BIT 技術、雷達狀態監測點的優化與診斷策略設計、雷達智能BIT整機性能監測、雷達BIT系統結構模型及虛警分析、BIT系統虛警抑制技術。
今日66折
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。