滿額折
商品簡介
相關商品
商品簡介
《現代物理實驗原理與分析儀器》系統地介紹了物理和材料研究領域常用的單晶生長和薄膜製備方法，以及用來表徵晶體或薄膜結構、顯微組織、形貌、成分、價態等方面的分析技術；涵蓋了X射線衍射技術、各種電子顯微技術、掃描探針技術、能譜技術、表面物理分析技術、核物理方法測試技術和光譜分析技術。並對這些分析技術的基本原理、儀器結構和應用等進行了系統的闡述。具體涉及的分析儀器包括X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀、波譜儀、低能電子衍射、高能電子衍射、俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、正電子湮沒技術、穆斯堡爾譜學、紅外光譜和激光拉曼光譜等內容。
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。