滿額折
商品簡介
相關商品
商品簡介
場發射掃描電鏡的出現，標誌若掃描電鏡進入一個嶄新的時代，掃描電鏡技術取得了巨大進步。新型電子槍、浸沒式物鏡、穿鏡二次電子探測器、模擬背散射、E×B和電子束減速等新技術的應用，極大地提高了掃描電鏡的性能，場發射掃描電鏡已經成為各類分析測試實驗室的儀器。
本書系統地論述了掃描電鏡基礎理論、掃描電鏡的結構和成像原理，通過實操案例詳細地介紹了掃描電鏡的調試和參數選擇，重點介紹了樣品製備及場發射掃描電鏡在生物、環境和材料領域中的應用。
本書適合材料、化學、生物、微電子、半導體和環境等領域的科研院所和高校相關專業師生閱讀，可為相關行業研究人員和從業者提供有益參考。
本書系統地論述了掃描電鏡基礎理論、掃描電鏡的結構和成像原理，通過實操案例詳細地介紹了掃描電鏡的調試和參數選擇，重點介紹了樣品製備及場發射掃描電鏡在生物、環境和材料領域中的應用。
本書適合材料、化學、生物、微電子、半導體和環境等領域的科研院所和高校相關專業師生閱讀，可為相關行業研究人員和從業者提供有益參考。
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。