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商品類型
簡體書 （2）
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無法訂購 （2）
庫存狀況
無庫存 （2）
商品定價
$199以下 （1）
$200~$399 （1）
出版日期
2017年以前 （2）
裝訂方式
平裝 （2）
作者
雷紹充 （2）
出版社/品牌
西安交通大學出版社 （1）
電子工業出版社 （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共2筆，1/1頁
SOC測試（簡體書）
1.

SOC測試（簡體書）

作者：雷紹充  出版社：西安交通大學出版社  出版日：2012/01/01 裝訂：平裝
雷紹充、梁峰、張鴻、張國和編著的《SOC測試》系統化介紹SOC測試方法與結構，主要內容包括SOC測試的原理和標準，掃描測試與內建自測試，軟件自測試，測試壓縮，低功耗測試，延遲測試，模擬與混合電路測試，RF電路測試，SOC與NOC測試。 《SOC測試》既可作為高等院校電子與信息、計算機科學與技術和電氣工程類高年級學生和研究生的專業課教材，也可作為從事集成電路設計、制造、測試、應用、EDA和AT
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超大規模集成電路測試（簡體書）
2.

超大規模集成電路測試（簡體書）

作者：雷紹充  出版社：電子工業出版社  出版日：2008/05/01 裝訂：平裝
VLSI測試與可測性設計方法學已甄成熟，諸多理論和方法也為設計和制造界廣泛接受，亦成為EDA工具的基本特征。本書系統化編撰迄今為止主流的方法學與結構，為讀者進行更深層次的電路設計、模擬、測試和分析打下良好的基礎，也為電路(包括電路級、芯片級和系統級)的設計、制造、測試和應用之間建立一個相互交流的平臺。 本書主要內容包括電路測試基礎，驗證、模擬和仿真，自動測試生成，專用可測性設計，掃描設計，邊界掃描
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