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雷紹充、梁峰、張鴻、張國和編著的《SOC測試》系統化介紹SOC測試方法與結構,主要內容包括SOC測試的原理和標準,掃描測試與內建自測試,軟件自測試,測試壓縮,低功耗測試,延遲測試,模擬與混合電路測試,RF電路測試,SOC與NOC測試。
《SOC測試》既可作為高等院校電子與信息、計算機科學與技術和電氣工程類高年級學生和研究生的專業課教材,也可作為從事集成電路設計、制造、測試、應用、EDA和ATE專業人員的參考用書。

名人/編輯推薦

雷紹充、梁峰、張鴻、張國和編著的《SOC測試》介紹SOC測試方法,包括數字、存儲器以及模擬與混合電路的測試方法。由于可測性設計(design-for-testable,DFT)可有效地減少測試成本和提高測試質量,各種電路的DFT方法也是本書要介紹的重要內容。

目次

第1章 簡介
第2章 掃描測試與內建自測試
第3章 SOC測試與NOC測試
第4章 測試壓縮
第5章 延遲測試
第6章 低功耗測試
第7章 模擬與混合信號測試
第8章 射頻電路測試
第9章 基本軟件的自測試
附錄

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