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無庫存 (3)
商品定價

$800以上 (3)
出版日期

2020~2021 (3)
裝訂方式

精裝 (3)
作者

Malarvel (2)
Nayak, Soumya Ranjan (Amity University Uttar Pradesh, India),Sahoo, Biswa Mohan (Amity University Uttar Pradesh, India),Malarvel, Muthukumaran (Chitkara University),Mishra, Jibitesh (1)
出版社/品牌

John Wiley & Sons Inc (2)
PBKTYFRL (1)

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3筆商品,1/1頁
Machine Vision Inspection Systems, Volume 2 - Machine Learning-Based Approaches
作者:Malarvel  出版社:John Wiley & Sons Inc  出版日:2021/01/26 裝訂:精裝
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
Machine Vision Inspection Systems - Image Processing, Concepts, Methodologies And Applications
作者:Malarvel  出版社:John Wiley & Sons Inc  出版日:2020/06/02 裝訂:精裝
This edited book brings together leading researchers, academic scientists and research scholars to put forward and share their experiences and research results on all aspects of an inspection system f
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。

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