納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化（簡體書）

《納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化》的主要內容涉及一種公認的納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應--負偏置溫度不穩定性 （nbti）。介紹了nbti效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響。從提高nbti效應影響下電路可靠性的角度，論述了相應的硅前分析、在線預測和優化方法。
《納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化》可為從事大規模數字集成電路可靠性設計及容錯計算方向研究的科技人員，以及從事大規模集成電路設計和測試的工程技術人員提供參考；也可作為普通高等院校集成電路專業的教師和研究生的參考資料。

第1章 緒論
1.1 nbti效應
1.2 工藝偏差
1.3 章節組織結構

第2章 國際、國內研究現狀
2.1 硅前老化分析和預測
2.1.1 反應-擴散模型
2.1.2 基于額定參數值的nbti模型
2.1.3 考慮工藝偏差的老化統計模型和分析
2.2 在線電路老化預測
2.2.1 基于時延監測原理的在線老化預測方法
2.2.2 超速時延測試
2，2.3 基于測量漏電變化原理的在線老化預測方法
2.3 相關的優化方法
2.3.1 電路級優化
2.3.2 體系結構級優化
2.4 本章小結

第3章 面向工作負載的電路老化分析和預測
3.1 老化分析和預測方法概述
.3.2 關鍵通路和關鍵門的識別
3.2.1 潛在關鍵通路識別
3.2.2 潛在關鍵通路的精簡
3.2.3 關鍵門的識別
3.3 占空比的求解
3.3.1 時延約束
3.3.2 占空比取值約束
3.4 實驗及結果分析
3.5 本章小結

第4章 電路老化的統計預測和優化
4.1 硅前電路老化的統計預測和優化
4.1.1 門級老化統計模型
4.1.2 統計關鍵門的識別
4.1.3 門設計尺寸縮放算法
4.1.4 實驗及結果分析
4.2 硅前和硅後協同的電路老化統計分析和預測
4.2.1 方法概述
4.2.2 目標通路的識別
4.2.3 硅後學習
4.2.4 實驗及結果分析
4.3 本章小結

第5章 在線電路老化預測
5.1 基于時延監測原理的在線電路老化預測方法
5.1.1 雙功能時鐘信號生成電路
5.1.2 抗工藝偏差影響的設計考慮
5.1.3 實驗及結果分析
5.2 基于測量漏電變化原理的在線電路老化預測方法
5.2.1 漏電變化與時延變化之間相關性的刻畫
5.2.2 漏電變化的測量
5.2.3 實驗及結果分析
5.3 本章小結

第6章 多向量方法優化電路老化和漏電
6.1 單獨優化nbti效應導致的電路老化
6.1.1 控制向量的生成
6.1.2 最佳占空比的求解
6.1.3 硬件實現
6.1.4 實驗及結果分析
6.2 電路老化和靜態漏電的協同優化
6.2.1 協同優化模型
6.2.2 最佳占空比的求解
6.2.3 實驗及結果分析
6.3 本章小結

第7章 總結與未來研究工作展望
7.1 研究內容總結
7.2 未來研究工作展望
參考文獻