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商品簡介
商品簡介
Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟體EXPGUI-GSAS的安裝和使用介面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射資料的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個提高練習示例，包括創建儀器參數檔、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
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