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【O721】晶體對Ｘ射線、電子和中子的衍射理論
【O722】衍射實驗及數據處理
【O722+.1】勞厄法
【O722+.2】周轉法、回擺法及魏森伯法
【O722+.3】倒易點陣直接照相法
【O722+.4】粉末法
【O722+.5】低角散射（小角散射）
【O722+.6】漫散射
【O722+.7】電子衍射與中子衍射
【O722+.8】擴展Ｘ射線吸收精細結構（EXAFS）
【O723】結構分析
【O723+.1】粉末法中單胞的確定
【O723+.2】空間群的測定
【O723+.3】傅立葉綜合法（帕特森投影及電子云分布法）及重原子法
【O723+.4】周相問題
【O723+.5】結構分析所用的模擬及計算工具
【O723+.6】結構參數的準確測定
【O723+.7】點陣常數的準確測定
共
11
筆，
1
/1頁
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1.
短波長特徵X射線衍射（簡體書）
作者：
鄭林
;
張津
出版社：
科學出版社
出版日：
2025/03/01
裝訂：
平裝
《短波長特徵X射線衍射》系統地介紹作者獨創的短波長特徵X射線衍射基本原理和無損檢測晶體內部衍射信息等主要應用，除緒論外，主要包括三部分，共11章。在第一部分(共2章)X射線衍射基礎中，概述X射線物理學基礎、晶體的X射線衍射基礎等；在第二部分(共3章)短波長特徵X射線衍射基礎、儀器及實驗技術中，詳述短波長特徵X射線衍射原理、織構/取向材料的極密度極大值法等實驗分析方法，並簡介SWXRD-1000型短波長X射線衍射儀；在第三部分(共6章)晶體材料/工件內部的短波長特徵X射線衍射分析應用中，詳述無損檢測分析單晶/多晶材料工件內部殘餘應力、織構/取向、物相等的工程應用實例。《短波長特徵X射線衍射》的結束語總結了幾種現有晶體衍射技術的特點，並分析目前短波長特徵X射線衍射存在的不足，指出今後的發展方向。
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2.
材料X射線衍射基礎與實踐（簡體書）
作者：
王利民
;
吳立明
;
張宴會
出版社：
化學工業出版社
出版日：
2024/02/01
裝訂：
平裝
《材料X射線衍射基礎與實踐》根據“高等學校材料類專業教學指導委員會規劃教材”建設項目的要求，博采同類教材眾長並結合編者多年教學和科研心得，從學生學習角度整合教材內容，教材深挖教學重點、剖析難點，不僅著眼於學生基礎知識結構的構建，更注重學生思考能力的培養。本書內容的安排如下：第1章緒論，闡述該課程在材料科學與工程專業課程體系中的定位，介紹衍射現象和衍射技術的發展歷程；第2章講解X射線的基礎物理知識；第3章為材料晶體結構的描述方法，重點解釋引入倒易空間描述晶體結構的科學性和意義；第4～6章講解X射線晶體衍射的基本理論，包括衍射方向、衍射強度和衍射線形等，重點內容包括勞厄方程、布拉格方程、衍射矢量方程、埃瓦爾德圖解、消光規律、干涉函數等；第7章為X射線衍射技術和方法，介紹獲得衍射圖譜的常見技術和基本方法；第8、9章介紹X射線衍射技術的基本應用，主要包括材料的物相鑒定與定量分析、點陣常數測定、結晶度分析和應力分析等。本書是高等學校材料類專業的本科和研究生教材，也可供材料研究和工程領域的技術人員參考。
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3.
材料X射線分析技術（簡體書）
作者：
朱和國
;
曾海波
;
蘭司
;
尤澤什
出版社：
科學出版社
出版日：
2023/09/01
裝訂：
平裝
《材料X射線分析技術》為工業和信息化部“十四五”規劃教材，主要介紹晶體學基礎與X射線在材料結構、形貌和成分方面的分析技術。其中，結構分析技術包括X射線的物理基礎、衍射原理、物相分析、織構分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內應力分析、點陣常數的測量與熱處理分析等；形貌分析技術即三維X射線顯微成像分析；成分分析技術包括特徵X射線能譜、X射線光電子能譜及X射線熒光光譜等。《材料X射線分析技術》研究和測試的材料主要包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態材料、金屬間化合物、複合材料等。《材料X射線分析技術》對每章內容做了提綱式的小結，並附有適量的思考題。《材料X射線分析技術》採用一些作者尚未發表的圖，同時在實例分析中引入一些當前材料領域最新的研究成果。
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4.
晶體材料的X射線衍射原理與應用（簡體書）
作者：
王沿東
;
劉沿東
;
劉曉鵬
出版社：
清華大學出版社(大陸)
出版日：
2023/04/21
裝訂：
平裝
本書系統講解了晶體學基礎知識、X射線衍射基本理論以及X射線衍射在晶體材料取向分析、應力分析、物相分析、織構分析等方面的應用。全書通過詳細的圖解對抽象的理論知識、重點和難點進行了詳細講解；對當代各種新技術、新方法做出了富有前瞻性的分析和介紹，力求幫助讀者能夠輕鬆愉快的學習。
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5.
現代衍射方法（簡體書）
作者：
(荷)艾瑞克‧J.米特梅耶
;
(德)烏多‧韋爾澤爾
出版社：
科學出版社
出版日：
2023/03/01
裝訂：
平裝
《现代衍射方法》全面介绍了各种现代衍射方法，注重实践案例，特别是在原位测量方面，旨在使读者深入了解现代衍射技术的广泛应用，尤其是与当今材料科学的密切结合，在科学研究中发挥着日益强大的作用。 《现代衍射方法》共分四部分，第一部分是衍射揭示晶体结构信息，包括单晶结构解析(第1章)、粉末衍射全谱精修(第2章)和非晶、无序晶体、纳米晶的全散射分析(第3章)；第二部分是衍射材料微结构和缺陷分析，包括第4章的线形分析理论与技术，以及工程技术领域的实际应用，如第5、6章的应力衍射分析，特别是深度分布分析，第7章的取向织构衍射分析(包括X射线、同步辐射、中子、透射电子、背散射电子)，第8、9章侧重薄膜及表面的衍射分析；第三部分是物相的定性定量分析，介绍现代流行的Rietveld精修方法，即衍射全谱拟合(第10章)，以及这种方法在材料动力学研究中的具体应用(第11章)；第四部分主要涉及现代衍射的仪器装置，第12章介绍各类光源(同步辐射、中子和实验室光源)、衍射几何等，第13章介绍了衍射设备的检定和校验方法，第14章专门介绍同步辐射光源的应用，第15章是高能电子衍射，第16章对原位衍射测试中的主要问题做了点评和总结。
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6.
X射線多晶衍射資料Rietveld精修及GSAS軟件入門（簡體書）
作者：
鄭振環
;
李強
出版社：
中國建材工業出版社
出版日：
2016/06/01
裝訂：
平裝
Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟體EXPGUI-GSAS的安裝和使用介面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射資料的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三
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7.
多晶X射線衍射技術與應用（簡體書）
作者：
江超華
出版社：
化學工業出版社
出版日：
2014/07/01
裝訂：
平裝
本書系統地介紹了多晶X射線衍射技術的原理、儀器、方法和應用。全書內容循序漸進，在介紹X射線的物理基礎、射線強度檢測技術及其發展、晶體和晶體衍射的理論知識基礎上，著重闡述了X射線衍射儀器和多晶衍射儀的原理，詳細論述了如何獲得正確的衍射數據、如何評估衍射實驗數據的可信度以及儀器的工作狀態等實驗技術問題。之后，又在物相分析、晶面間距或晶胞參數精測、峰形分析三方面深入介紹了多晶衍射數據在各方面的實際應
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8.
多晶材料．X射線衍射：實驗原理、方法與應用（簡體書）
作者：
黃繼武
;
李周
出版社：
冶金工業出版社
出版日：
2012/09/01
裝訂：
平裝
《多晶材料X射線衍射——實驗原理方法與應用》由黃繼武和李周編著，內容分為4部分：(1)數據測量方法：介紹了粉末X射線衍射實驗設備、樣品制備方法及技巧；(2)數據處理軟件操作：講解X射線衍射實驗數據處理軟件Jade的基本操作方法；(3)X射線衍射傳統分析方法：物相定性分析、定量分析、結晶度、點陣常數精確測量、晶粒尺寸與微觀應變、殘余應力計算；(4)Rietveld全譜擬合精修方法：通過Jade的精修
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9.
電子晶體學與圖像處理（簡體書）
作者：
李方華
出版社：
上海科學技術出版社
出版日：
2009/03/01
裝訂：
精裝
本書是高分辨電子顯微學和圖像處理方面的專著，共分三篇，第一篇介紹了運動學和動力學衍射理論、各類電子衍射花樣、晶體對稱性的會聚束電子衍射測定、晶體結構的衍射分析方法，以及基于動力學電子衍射的晶體結構因子精確測定；第二篇介紹了高分辨電子顯微像的成像原理、像襯度及其近似理論、像的理論計算以及借助高分辨電子顯微像測定晶體結構的模型法；第三篇簡單介紹了高分辨電子顯微像的各種圖像處理方法，著重于高分辨電子顯微
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10.
電子背散射衍射技術及其應用（簡體書）
作者：
楊平
出版社：
冶金工業出版社
出版日：
2007/07/01
裝訂：
平裝
電子背散射衍射（簡稱EBSD）技術是基於掃描電鏡中電子束在傾斜樣品表面激發出的衍射菊池帶的分析確定晶體結構、取向及相關信息的方法。 本書系統地闡述了。EBSD技術的含義、特點（或優勢）及應用領域；簡述了EBSD技術的發展過程和在我國的應用現狀，以及與其他相關測試技術的比較；介紹了與EBSD技術相關的晶體學知識和晶體取向（織構）的基本知識；以及EBSD測定分析過程中涉及的原理和相關硬件，EBSD數
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11.
粉末多晶X射線衍射技術原理及應用（簡體書）
作者：
張海軍
出版社：
鄭州大學出版社
裝訂：
平裝
《粉末多晶X射線衍射技術原理及應用》共分12章，側重於講述衍射技術的應用。第1章和第2章為晶體學和X射線衍射原理，第3章和第4章為X射線衍射設備及衍射數據，第5章為計算機在多晶衍射技術中的應用，第6章為x射線物相定性和定量分析方法，第7章為X射線的小角度衍射介紹，第8章為晶體點陣的測試原理與方法，第9章為結晶度的測試原理與計算方法，第10章為X射線衍射技術測定宏觀應力，第11章為Rietveld方
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