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集成電路芯片測試技術（簡體書）
商品資訊
系列名：高職高專電子信息類系列教材
ISBN13：9787560659541
出版社：西安電子科技大學出版社
作者：居水榮
出版日：2021/04/16
裝訂／頁數：平裝／200頁
規格：24cm*17cm (高/寬)
版次：一版
商品簡介
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商品簡介
本書是從微電子產業實際崗位需求出發，結合作者多年企業工作經驗及一線教學經驗編寫而成的。書中詳細介紹了目前業界常見的各類集成電路芯片的測試原理、測試方法以及測試程序的編寫，具體包括各類組合/時序邏輯電路測試、ADC/DAC芯片測試、存儲器/微控制器測試、集成運放/電源管理芯片測試等，同時還介紹了晶圓探針臺、測試機的使用。
本書可作為高職院校微電子技術專業的核心課程教材，亦可作為全國職業院校技能大賽“集成電路開發及應用”賽項的備賽訓練參考教材。
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