三民網路書店 中國圖書館分類法 / 工業技術 / 無線電電子學、電信技術 / 微電子學、集成電路（IC） / 測試和檢驗

本書共有 11 個項目、36個任務、18 個技能訓練，涵蓋了集成電路測試的數字集成電路、模擬集成電路以及集成電路綜合應用電路等的基本測試知識和實際操作，分別介紹常見的 74HC138、CD4511、74HC245、ULN2003、LM358、NE555、ADC0804、DAC0832 和 74HC151 等芯片測試以及集成電路綜合應用電路測試。本書引入全國技能大賽“集成電路開發與應用”賽項和“1+X 集成電路開發與測試”關鍵知識點，採用“活頁手冊式”的編寫編寫形式，以及“項目引領、任務驅動”的的模式，突出“教學做一體化、邊做邊學”的基本理念，每個任務均將相關知識和職業崗位基本技能融合一起，把知識、實操的學習結合成任務來完成。本書已獲得中國半導體行業協會集成電路分會、中國職業教育微電子產教聯盟、全國集成電路專業群職業教育標準建設委員會和杭州朗迅科技有限公司認可，可作為全國職業院校技能大賽“集成電路開發與應用”賽項的培訓教材，還可以作為“1+X 集成電路開發與測試”和“1+X 集成電路封裝與測試”等級證書參考教材。同時，本書可作為職業院校集成電路技術、微電子技術、電子技術應用、電子信息工程等相關專業集成電路測試課程的教材，也可作為廣大集成電路測試人員的自學用書。

本書全面、系統地介紹了集成電路測試技術。全書共分10章，主要內容包括：集成電路測試概述、數字集成電路測試技術、模擬集成電路測試技術、數模混合集成電路測試技術、射頻電路測試技術、SoC及其他典型電路測試技術、集成電路設計與測試的鏈接技術、測試接口板設計技術、集成電路測試設備、智能測試。書後還附有詳細的測試實驗指導書，可有效指導讀者開展相關測試程序開發實驗。 本書可供集成電路測試等相關領域的科研人員和工程技術人員閱讀使用，也可以作為高等院校電子科學與技術、微電子工程等相關專業的教學用書。

偽集成電路是指不符合正品集成電路設計規範要求的非授權產品，主要形式包括回收、重標記、超量生產、不合格/有缺陷、克隆、偽造文件以及篡改等，這些將會大大降低應用系統的安全性和可靠性。本書對偽集成電路相關問題進行了全面剖析，並系統闡述了其檢測與防範方法。

本書系統地介紹了集成電路測試所涉及的基礎知識和實踐經驗。全書共分為15章。其內容包括實際的導線、電阻、電容、電感元件在測試電路中的影響，自動測試設備（ATE）V/I源的基本原理和實際應用限制，一些簡單的模擬和數字集成電路測試原理和方法，測試數據分析的常用方法，以及測試電路相關的信號完整性方面的簡單介紹，並結合測試開發的實際案例講解了集成電路測試項目開發流程。以往這些內容分散到不同教材中，缺乏系統性。本書以集成電路測試為主線，從ATE應用角度，結合編者多年來的研發和應用經驗，將基礎知識串聯起來。尤其從測試行業新人培養出發，加入了V/I源的基本原理和實際應用限制的講解，並提供了仿真模型，使讀者能夠快速、全面地了解集成電路測試所需的各項基礎知識。本書可作為集成電路測試工程師的學習教材，或者集成電路自動測試設備應用工程師的基礎知識培訓教材。

作者通過分享自身經驗，為讀者提供一本以工程實踐為主的集成電路測試參考書。本書分為五篇共10章節來介紹實際芯片驗證及量產中半導體集成電路測試的概念和知識。第1篇由第1章和第2章組成，從測試流程和測試相關設備開始，力圖使讀者對於集成電路測試有一個整體的概念。第二篇由第3～5章組成，主要講解半導體集成電路的自動測試原理。第三篇開始進入工程實踐部分，本篇由第6章的集成運算放大器芯片和第7章的電源管理芯片測試原理及實現方法等內容構成。通過本篇的學習，讀者可以掌握一般模擬芯片的測試方法。第四篇為數字集成電路的具體實踐。我們選取了市場上應用需求量大的存儲芯片（第8章）和微控制器芯片（第9章），為讀者講述其測試項目和相關測試資源的使用方法。第五篇即第10章節，使讀者瞭解混合信號測試的實現方式，為後續的進階打下一個堅實的基礎。本書主要的受眾是想要或即將成為集成電路測試工程師的讀者，我們假設讀者已經學習過相應的基礎課程，主要包括電路分析、模擬電子技術、數字電子技術、信號與系統、數字信號處理以及計算機程序設計語言。通過本書的學習，讀者將對半導體集成電路測試有一個總體的概念，並可以掌握能直接應用到工作中的實戰技術，並借此以“術”入“道”。對於已經從事半導體集成電路測試的工程技術人員、集成電路產品工程師、設計工程師，本書也具有一定的參考意義。

本書是從微電子產業實際崗位需求出發，結合作者多年企業工作經驗及一線教學經驗編寫而成的。書中詳細介紹了目前業界常見的各類集成電路芯片的測試原理、測試方法以及測試程序的編寫，具體包括各類組合/時序邏輯電路測試、ADC/DAC芯片測試、存儲器/微控制器測試、集成運放/電源管理芯片測試等，同時還介紹了晶圓探針臺、測試機的使用。 本書可作為高職院校微電子技術專業的核心課程教材，亦可作為全國職業院校技能大賽“集成電路開發及應用”賽項的備賽訓練參考教材。

《集成電路驗證》從集成電路驗證領域存在的問題出發，詳細介紹數字電路和模擬電路驗證方法，主要包括設計驗證語言基礎、模擬仿真驗證、覆蓋率檢驗方法、電路的形式驗證、物理驗證、SPICE仿真、低功耗設計和驗證方法、低功耗驗證技術實例、矽後驗證等方面。《集成電路驗證》緊密圍繞工業界集成電路驗證流程進行闡述，盡可能覆蓋集成電路驗證領域的現有技術內容，同時對低功耗驗證、矽後驗證等驗證領域新的趨勢和研究課題進行分

《集成電路認證硬件木馬與偽芯片檢測》是系統性分析硬件木馬和偽芯片的著作，對硬件木馬和偽芯片分類、硬件木馬檢測、可信硬件設計、脆弱性評估等方面均進行了討論分析，提出了環形振蕩器網絡、基于輕量級片上傳感器的lC指紋設計等硬件木馬防護手段，是目前該領域較為全面的著作，也是相關技術的代表性著作，對本領域發展具有很好的引領作用。因此，在承擔自然科學基金項目的過程中，我們組織項目組主要成員翻譯了《集成電路認證

本書主要內容包括：基本概念、IEEE1149.X標準、單板級可測性設計、邊界掃描測試應用、內建自測試技術、處理器測試技術、嵌入式測試技術。 本書適合於相關領域工程技術人員閱讀，也可作為高等院校電子資訊、通信、測試測控、自動化等專業高年級學生或研究生的教學參考書。

《集成電路芯片測試》主要從集成電路測試從業人員所需的職業道德、C語言、自動分選機、測試機系統及應用以及常

《SoC系統設計》主要介紹在SoC的EDA平臺上進行系統設計的方法，全書共9章，第1章為緒論；第2章為SoC系統設計概述，內容包括SoC基本概念、SOC研究內容、分類及設計流程、IP核覆用技術、SoC設計工具等；第3章介紹現場可編程門陣列FPGA器件結構、配置及XilinxFPGA產品；第4章討論VHDL硬件描述語言使用方法，包括VHDL語法要素、順序描述語句及並行描述語句；第5章介紹常用組合邏輯

雷紹充、梁峰、張鴻、張國和編著的《SOC測試》系統化介紹SOC測試方法與結構，主要內容包括SOC測試的原理和標準，掃描測試與內建自測試，軟件自測試，測試壓縮，低功耗測試，延遲測試，模擬與混合電路測試，RF電路測試，SOC與NOC測試。 《SOC測試》既可作為高等院校電子與信息、計算機科學與技術和電氣工程類高年級學生和研究生的專業課教材，也可作為從事集成電路設計、制造、測試、應用、EDA和AT

《微電子計量測試技術》對微電子計量技術、微電子測試技術、微電子測試設備以及微電子測試程序設計，從概念到具體的技術細節，都作了系統的介紹，具有很好的實用價值。我相信，《微電子計量測試技術》對從事微電子計量測試的專業技術人員、相關的管理干部，以及相關專業的學生們都有很好的參考價值。

本書系統介紹了常用集成電路測試的原理、方法和技術，范圍涵蓋了數字集成電路、模擬集成電路、SOC器件、數字/模擬混合集成電路、電源模塊、集成電路測試系統、測試接口板設計等方面。主要為從事IC測試相關人員全面掌握各類集成電路的測試技術打下良好基礎。 本書首先介紹了集成電路測試的基本概念和理論，包括集成電路測試的基本原理、測試的分類、測試的作用等，然后分別對數字集成電路、存儲器、各類模擬集成電路、數字

本書包括數字集成電路測試技術、模擬集成電路測試技術、數模混合集成電路測試技術三大部分內容，主要介紹邏輯數字集成電路測試、時序數字電路的測試、內嵌自測試的原理和方法、模擬集成電路測試技術、混合信號測試技術。另外，本書配有一張DVD演示光盤，主要介紹的是混合信號集成電路的測試原理和方法，包括混合信號測試系統的硬件組成、硬件連接及操作、LabVIEW軟件的使用等，與圖書文字內容相輔相成，以助于深化理解測

本書詳盡介紹了常見的數千種集成電路在數千種型號的彩色電視機、VCD、DVD、攝錄一體機、音響設備（含汽車音響）、收錄機（隨身聽）、計算機、顯示器、高檔收音機、電話機等家電產品及電子儀器設備中的在路實測數據。該書特點是內容新穎、檢測數據比較準確、詳實而全面，具有很強的實用性和可操作性，讀者一看就懂，就能進行檢測、判斷、使用。本書可滿足家用電器與電子儀器設備設計、制造與維修人員和廣大的無線電與電子技術

本書從最高層次的系統級驗證直至最終的物理實現和簽付，詳細介紹了各種設計抽象級別和各階段所涉及到的各種驗證方法及工具。主要內容包括各種不同類型的仿真、軟件/硬件協同驗證、數字/模擬混合驗證、網表靜態驗證、物理驗證、測試平臺遷移、形式模型與等價性檢查、代碼靜態檢查與代碼覆蓋狀況分析、定向隨機測試等驗證技術。 本書以藍牙系統芯片為例，各章中有結合實際的代碼和腳本可供讀者參考，以幫助讀者進一步深入理解。

本書內容分為三個單元，主要內容包括：集成電路基礎、集成電路晶圓測試基礎、集成電路成品測試基礎等。為便于讀者掌握本教材的重點內容，每一單元后附有單元測試題及答案，全書后附有知識考核模擬試卷和技能考核模擬試卷及答案，用于檢驗和鞏固所學知識與技能。