高頻電子電路S參數測量與校準技術(簡體書)
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描述傳輸通道頻域特性的散射參數(scattering parameter,S參數),用於表征被測器件線性矢量參數頻率響應的幅頻與相頻特性,是高頻電子電路中最基本、最常用的核心指標參數之一。本書以S參數測量與校準為切入點,以圖文並茂的方式深入淺出地介紹了S參數的基本概念與發展歷史、矢量網絡分析儀結構與工作原理、性能指標解讀與評判、各種S參數校準、去嵌方法原理與優劣、不確定度分析、自動測試技術、使用技巧和注意事項、行業最新發展動態等,全面總結了迄今為止各種S參數校準、去嵌方法的數學原理及該領域多年發展成果。

本書適合進行S參數測試相關的專業人士閱讀使用,也適合作為廣大高等院校相關專業學生以及企業、研究機構相關專業人員的參考書。

本書創新點:

·以國家戰略需求為導向,直面“卡脖子”痛點和難點

·作者權威,在射頻芯片研究領域深耕多年

·代表我國高精度測量領域高精尖技術前沿

作者簡介

郁發新教授浙江大學航天電子工程研究所所長、博士生導師,國家wr計劃科技領軍人才、國防科技卓越青年人才和國防科技創新團隊牽頭人。在射頻模擬芯片領域具有扎實的理論基礎和豐富的di一線研發經驗,開發了大量通信、導航、雷達所用的高端射頻模擬芯片,有效支撐了我國多個重點型號的裝備,大力推動了我國高端射頻模擬芯片技術快速發展。

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